贵金属分析仪使用说明

Ⅰ 贵金属分析仪是怎样的能测试的吗

你说的是重金属分析仪吧，你可以看一下这个重金属快速检测分析仪

产品原理：

重金属快速检测分析仪检测原理是基于被测样品中有害物质或营养成分与显色剂反应生成有色化合物对可见光有选择性吸收而建立的比色分析法。仪器由LED光源、比色池、集成光电传感器、微处理器和微型打印机构成，可直接在液晶屏幕上显示出被测样品中有害物质的含量，并打印出分析结果。

功能特点：
*采用国家最新颁布的标准方法，检测时间5-30分钟
*适用于实验室或现场液体样品和固体样品的定量测定
*大屏幕液晶中文显示，单片机智能控制，人机交互式操作，具有测量、设置、
记录、保存和数据统计处理功能
*利用冷光、单色光作光源，光学稳定性极佳，不会受到各种光的干扰
*光源寿命长达10万小时
*智能快捷键可自动切换光路
*内存100条标准曲线可自行修定并保存
*内存回归拟和曲线，可自动计算并保存。无须手动制作曲线
*可精确存储3万个测定数据（包括测定时间、参数、数值)
*打印当前数据和所有存储历史数据(微型打印机选装)

技术指标：
•光源:超高亮发光二极管
•波长精度:±2nm
•光度范围:0.000～2.000Abs
•稳定性:0.005Abs/h
•曲线数量:99条
•存储数据:3万个
•检测测器:集成光电传感器
•样品室:比色皿（池）
•键盘:轻触式中英文键盘
•显示:大屏幕LCD
•使用环境:5～40℃
•测量精度:±5％
•响应时间:0.3s

Ⅱ 贵金属光谱分析仪价格多少

在10-25万左右
贵金属分析仪是分析贵金属成分组成的精密仪器，常用的有化学有损分析仪器和物理无损分析仪器。鉴于贵金属本身价格昂贵，不能轻易破坏其外形，故化学有损检测仪在珠宝行业不被经常使用。
光谱贵金属分析仪享有无损、快速、精确等特点，被广泛用于首饰生产、加工、销售、质检等部门。随着贵金属行业的蓬勃发展，贵金属的业务日益增加，给贵金属行业带来效益的同时我们对产品的工艺，含量的控制越来越需要高效和准确。近年来由于加工工艺不断提高，各种贵金属在市场上流通的越来越多。
主要特点
无损检测：被测金属无论外观、内在质量还是重量都不受任何损害
测量范围宽：各类黄金、白金及其他贵金属合金都可测量
测量速度快：根据测量要求，在几秒到几分钟内可以得出测量结果
测量进度高：测量误差是±0.1%
提供谱线重叠比较工具，便于用户查明未知元素谱峰
提供密度法复核软件，可对本机测定结果进行复核
贵金属分析仪的种类和适用范围分别如下：
1）台式：台式验金机一般体积大，重量重，需要外接台式电脑，仪器稳定性好，重显性高。主要适用于 首饰加工厂
2）便携式：体积较小，重量轻，便于携带，需要外接笔记本电脑，一般是手提，亦称手提式验金机。常用于收金个体户。
3）手持式：体积最小，重量最轻，不需要外接电脑，仪器内置数据显示系统，方便随身检测。大型加重厂常用到。

Ⅲ 如何正确使用手持式光谱仪（手持式合金分析仪）

浪声手持式光谱仪生产厂家以专业的角度告诉大家如何使用这款光谱仪器。
手持式光谱仪在使用的时候，对于环境是有一定的要求，不要在潮湿的环境下工作的，环境湿度0-95%之间为最好，不能在太高温下操作工作，这样的理由是避免各类磁场的干扰，如此仪器分析的时候才能检测出更精确的精度。所以，大家在工作的时候要注意环境的适合度，很多时候仪器检测不标准跟环境还是有很大程度上的关系。
一、手持式光谱仪对于操作人员也是要一定要求的，测试样品前一定要请仪器厂商的技术人员现场演示，并且对技术人员做操作前的培训。因为这款仪器是检测元素，那么一定会要做放样检测，这对人体来说是有一定的为还在用，所以，技术人员还需要做好防辐射。
二、对仪器操作的技术人员在使用仪器检测样品的时候，先要把仪器前方的圆孔对准需要检测样品的点，仪器要贴在上面，在扣动扳机开始检测的时候，技术人员的手一定不能抖动或偏动，否则会影响到检测的数据结果。
三、对于检测的样品也要一些小要求，被测的物品表面必须光滑、整洁，如此才能避免其他元素的干扰被测物品的表面是有油污，或重金属污染，如此检测出来的结果精确度就没那么高，如何仪器都不是万能的。
其实，手持式光谱仪的操作看起来很复杂，但是按照技术人员的指示一步步去操作，就没你想的那么复杂了。

Ⅳ 熔点仪的操作步骤及使用方法

熔点仪的操作步骤及使用方法：

进入正式测试前，必须进行使用前的准备工作。

1、硅油的灌入   

用注射器（附件）吸取硅油（附件）10ml从溢出口注入，重复6次，共需注入60ml硅油，然后将溢油瓶套在溢出口上（如长期测量熔点低于90℃时，可用蒸馏水代替硅油）。   

2、油浴管的更换   

首先取下溢油瓶，然后卸下侧板；用手伸进仪器箱体内，一手托住油浴管，一手拉下弹簧，然后竖直向下再水平取出油浴管，取出油浴管时，须小心谨慎，以免玻璃破损。   

把油管装入仪器内，按上述方法相反次序进行。

熔点测定

1、通过起始温度拔盘输入所需要的起始温度，设置的起始温度应低于待测物质的熔点（不大于280℃）。

2、开启电源形状，通过观察窗可以看到照明灯亮，硅油被电机搅拌，说明仪器已处于接通状态，同时显示屏会显示出当前的油浴温度，此后仪器自动达到预置设定温度并自动平衡，若要修改预置温度，则重新输入所需的预置温度，按一下“置入”键即可。   

3、仪器预热20分钟，将装有待测物质的毛细管从插入口中内的小孔中置入到油浴管中（插入及取出毛细管进必须小心谨慎，切勿折曲）。   

4、根据需要选择升温速率，按下相应的键，左上方即有光亮指示，说明仪器已进入线性升温工作状态，四档线性升温速率键可随时变换，对于未知熔点值的样品可先用快速升温得到初步熔点范围后而精测。   

5、通过观察窗观毛细管内的样品的熔化过程，出现初熔时，按下“按熔”键，初熔存贮指示灯亮，说明初熔已被贮存。出现终熔时，按下终熔键，显示屏上的数字被保持不动，这个数值就是终熔值。

说明：如果发生误动，则无法修改初、终熔读数，只好重新测量。   

6、若要读出初熔，按一下初熔读出键，显示屏上数字就是初熔值，但几秒后，显示屏上的数字又转换到终熔值。这样一直可以重复读出。   

7、谨慎取出测量完毕的毛细管。

8、如果要重复测同种样品，那么按一下“置入”键，仪器自动进入起始温度设定，等平衡后重复3－7的步骤即可。   

9、如果要测其它物质的熔点，可通过起始温度拔盘重新输入新的起始温度，然后按一下“置入”键重复3－7的步骤即可。   

10、一般推荐用户先测量低熔点物质，后测高熔点物质。  

11、如果仪器使用过程中有什么问题,可及时和成都雅源科技技术部工程师联系,以免影响你的实验操作。

Ⅳ 跪求 钢材成分分析仪（光谱）的使用说明

光谱仪是指利用折射或衍射产生色散的一类光谱测量仪器。光栅光谱仪是光谱测量中最常用的仪器，基本结构如图1所示。它由入射狭缝S1、准直球面反射镜M1、光栅G、聚焦球面反射镜M2以及输出狭缝S2构成。

衍射光栅是光栅光谱仪的核心色散器件。它是在一块平整的玻璃或金属材料表面（可以是平面或凹面）刻画出一系列平行、等距的刻线，然后在整个表面镀上高反射的金属膜或介质膜，就构成一块反射试验射光栅。相邻刻线的间距d称为光栅常数，通常刻线密度为每毫米数百至数十万条，刻线方向与光谱仪狭缝平行。入射光经光栅衍射后，相邻刻线产生的光程差 ， 为入射角， 为衍射角，则可导出光栅方程：

光栅方程将某波长的衍射角和入射角通过光栅常数d联系起来， 为入射光波长，m为衍射级次，取 等整数。式中的“ ”号选取规则为：入射角和衍射角在光栅法线的同侧时取正号，在法线两侧时取负号。如果入射光为正入射 ，光栅方程变为 。衍射角度随波长的变化关系，称为光栅的角色散特性，当入射角给定时，可以由光栅方程导出

，

复色入射光进入狭缝S1后，经M2变成复色平行光照射到光栅G上，经光栅色散后，形成不同波长的平行光束并以不同的衍射角度出射，M2将照射到它上面的某一波长的光聚焦在出射狭缝S2上，再由S2后面的电光探测器记录该波长的光强度。光栅G安装在一个转台上，当光栅旋转时，就将不同波长的光信号依次聚焦到出射狭缝上，光电探测器记录不同光栅旋转角度（不同的角度代表不同的波长）时的输出光信号强度，即记录了光谱。这种光谱仪通过输出狭缝选择特定的波长进行记录，称为光栅单色仪。

在使用单色仪时，对波长进行扫描是通过旋转光栅来实现的。通过光栅方程可以给出出射波长和光栅角度之间的关系（如图2所示）

，

图2 光栅转动系统示意图

2ψ

转台

衍射光

入射光

光栅

其中， 为光栅的旋转角度， 为入射角和衍射角之和的一半，对给定的单色仪来说 为一常数。

光谱仪是指利用折射或衍射产生色散的一类光谱测量仪器。光栅光谱仪是光谱测量中最常用的仪器，基本结构如图1所示。它由入射狭缝S1、准直球面反射镜M1、光栅G、聚焦球面反射镜M2以及输出狭缝S2构成。

一、光学系统

光谱仪光学系统，如图1所示：M1准光镜、M2物镜、M3转镜、G平面衍射光栅、S1入射狭缝、通过旋转M3选择出射狭缝S2或S3从而选择接收器件类型，出射狭缝为S2则为光电倍增管或硫化铅、钽酸锂、TGS等接收器件；出射狭缝为S3则为CCD接受器件。入射狭缝、出射狭缝均为直狭缝，宽度范围0~2mm连续可调，光源发出的光束进入入射狭缝S1，S1位于反射式准光镜M2的焦面上，通过S1射入的光束经M2反射成平行光束投向平面光栅G上，衍射后的平行光束经物镜M2成像在S2上，或经物镜M2和M3平面成像在S3上。

光源系统为仪器提供工作光源，可选氘灯、钨灯、钠灯、汞灯等各种光源。

二、电子系统

电子系统由电源系统、接收系统、信号放大系统、A/D转换系统和光源系统等部分组成。

电源系统为仪器提供所需的工作电压；接受系统将光信号转换成电信号；信号放大器系统包括前置放大器和放大器两个部分；A/D转换系统将模拟信号转换成数字信号，以便计算机进行处理。

三、软件系统

WDS系列多功能光栅光谱仪的控制和光谱数据处理操作均由计算机来完成。

软件系统主要功能有：仪器系统复位、光谱扫描、各种动作控制、测量参数设置、光谱采集、光谱数据文件管理、光谱数据的计算等。

WDS系列多功能光栅光谱仪器系统操作软件根据型号不同和接收仪器不的同配有PMT操作系统和CCD操作系统。每一系统均可采用快捷键和下拉菜单来进行仪器操作，下面分别进行说明。

3.1PMT操作系统

3.1.1 开机与系统复位

确认光栅光谱仪已经正确连接并打开电源。

在WONDOWS操作系统中，从“开始”——“程序”——“WDS系列光栅光谱仪”中执行相应的PMT可执行程序，或双击桌面上的快捷方式，启动系统操作程序。

在系统初始化过程后应有波长复位正确的提示，然后按“确定”进入系统操作主界面。

3.1.2菜单栏的使用

系统菜单栏包括文件、测量方式、数据处理、系统操作和帮助五项内容。

3.1.2.1文件

文件菜单中包括新建、打开、存盘、参数设置、打印和退出系统等项。其中，新建，即清除当前图谱文件并重新建立一个图谱文件。

打开，即打开已存图谱文件，可根据系统提示选择文件所在路径。

存盘，即保存当前图谱文件，可根据系统提示选择文件保存路径。

参数设置，即根据测量需对系统参数进行相应的参数设置。

在测量模式一栏中，可选择能量或透过率测量，并在系统允许的范围内，对起始刻度和终止刻度进行设置。能量（0~4095），透过率（0~100）。

在扫描速度一栏中，可对扫描记录数据的速度进行相应的设置，当样品未知时，一般可选择快速或中速，对于不同的仪器型号会稍有所不同。

在扫描方式一栏中，可选择测量为连续方式或重复方式，或在当前波长对时间进行记录。

在波长范围一栏中，可根据需要在系统允许的波长范围内对其进行相应的设置。系统允许的波长范围根据仪器型号的不同有所不同。

在光谱带宽一栏中，系统设置为手动，即根据测量需要对出射、入射狭缝宽度进行相应的设置。

系统默认增益为1，若信号较弱，可适当选择增益（1~4）。

打印，即根据提示对话框，打印当前图谱。

退出系统，当结束系统测量，选择此项，根据提示退出光栅光谱仪操作系统。

3.1.2.2 测量方式

测量方式菜单中包括光谱扫描、基线扫描和时间扫描等项。其中，

光谱扫描，即根据当前参数设置对当前光谱进行记录。

基线扫描，当选择了透过率测量方式时，在光谱扫描之前首先要对系统进行基线扫描以记录系统当前状态，在进行基线扫描时，状态栏显示值一般应在0~4095之间。

时间扫描，即在当前参数设置情况下，对当前波长进行时间记录。

3.1.2.3 数据处理

在数据处理菜单中包括刻度扩展、局部放大、峰值检索、峰值显示、读取数据、光谱平滑、光谱微分和光谱运算等项。其中，

刻度扩展，指对当前横、纵坐标的起始、终止刻度在系统允许的范围内进行相应的放大或缩小。点击此项功能将弹出如图6所示对话框。

局部放大，指对当前图谱文件进行部分放大。

峰值检索，指读当前图谱文件中一定范围内的峰值进行检索并将结果显示出来。点击此项弹出如图7所示对话框，提示输入峰值高度，输入峰值高度后，点击确定即可。

读取数据，即读取当前图谱的横、纵坐标数据，可选择列表方式或光标读取方式。

光谱平滑，点击此项系统将对当前图谱文件进行平滑处理，以去掉噪声或过小的峰值，来方便图谱的读取或辨别。

光谱微分，点击此项功能可对当前图谱进行一至四次微分。

光谱运算，点击此项系统弹出提示对话框，提示选择当前图谱与任意常数的加、减、乘、除四则运算。

3.1.2.4 系统操作

系统操作菜单中主要包括波长检索、波长校正、系统复位和系统设置等项。其中，

波长检索，点击此项系统弹出如图8所示波长检索对话框，提示输入目的波长，波长范围为系统允许波长范围内的任意波长值。

波长线性校正，当对光栅光谱议仪器系统检测发现系统波长值与准确波长不对应时，可通过此项对系统波长进行校正，在对话框中输入系统值与实际波长值的差值，点击确定即可。

系统复位，当仪器在运行过程中发现有不正常现象出现时，可点击此项对系统进行重新复位，以消除影响。

系统设置，即系统调试时用到的一些数据，用户不可更改。

3.1.2.5 帮助

帮助菜单中提供了厂商及仪器版本信息。

3.1.3 工具栏的使用

工具栏中主要包括新建、打开、保存、打印、光谱扫描、参数设置、波长检索、读取数据、峰值检索、刻度扩展、屏幕刷新和停止等项。其中，

新建、打开、保存、打印、和参数设置等项包含于菜单栏的“文件”菜单中；光谱扫描包含于菜单栏的“测量方式”菜单中；波长检索包含于菜单栏中的“系统操作”菜单中；读取数据、峰值检索和刻度扩展包含于菜单栏中的“数据处理”菜单中。

屏幕刷新，即刷新当前图谱屏幕显示以清除数据标注的字符。

停止，点击此项，系统将停止当前操作。

3.1.4 退出系统与关机

当系统测试结束后，将出射、入射狭缝调节至0.1mm左右，若有负高压系统，则将负高压调节至零。点击菜单栏中“文件\退出系统”，按照提示关闭电源退出仪器操作系统。

3.2 CCD操作系统

3.2.1 开机于系统复位

确认光栅光谱仪已经正确连接并打开电源。

在WINDOWS操作系统中，从“开始”——“程序”——“WDS系列光栅光谱仪”中执行相应的CCD可执行程序，或双击桌面上的快捷方式，启动系统操作程序。

在系统初始化过程后应有波长复位正确的提示，然后按“确定”进入系统操作主界面。

3.2.2 菜单栏中使用

系统菜单栏中包括文件、采集、数据处理、系统操作和帮助五项内容。下面分别进行介绍。

3.2.2.1 文件

文件菜单中包括新建、打开、存盘、测量参数、打印和退出系统等项。其中，

新建，即清除当前图谱文件并重新建立一个图谱文件。

打开，即打开已存图谱文件，可根据系统提示选择文件所在路径。

存盘，即保存当前图谱文件，可根据系统提示选择文件保存路径。

测量参数，即根据测量需对系统参数进行相应的设置，通常情况下采取默认值即可。

打印，即根据提示对话框，打印当前图谱。

退出系统，当结束系统测量，选择此项，根据提示退出光栅光谱仪操作系统。

3.2.2.2 采集

采集菜单中包括一次采集、连续采集和门值设置等项。其中，

一次采集，即在当前中心波长对当前光谱进行一次性记录。

连续采集，即在当前中心波长对当前光谱进行连续性记录，时时刷新。

门值设置，系统默认门值设置为-1，当要去除较小的峰值时，可通过设置门值来进行限制。

3.2.2.3 数据数理

数据处理菜单中包括读取数据、光谱平滑、峰值检索、刻度扩展、显示光谱参数、像元波长转换和谱线运算等项。其中，

读取数据，即读取当前图谱的横、纵坐标数据，可选择列表方式或光标读取方式。

光谱平滑，点击此项系统将对当前图谱文件进行平滑处理，以去掉噪声火过小的峰值，来方便图谱的读取或辨别。

峰值检索，指读当前图谱文件中一定范围内的峰值进行检索并将结果显示出来。点击此项弹出对话框，提示输入峰值高度，输入峰值高度后，点击确定即可。

刻度扩展，指对当前横、纵坐标的起始、终止刻度在系统允许的范围内进行相应的放大或缩小。点击此项功能将弹出对话框。

显示光谱参数，即显示当前光谱的测量参数。

像元波长转换，即选择将系统操作界面的横坐标用像元或波长的方式显示。

谱线运算，即对当前光谱的与常数加、减、乘、除四则运算。

3.2.2.4 系统操作

系统操作菜单中主要包括检索仪器中心波长、检索谱线中心波长、零点波长校正、系统参数设置和系统复位等项。其中，

检索仪器中心波长，即将操作系统界面显示的中心波长检索至目的波长处。

检索谱线中心波长，即若当前显示的图谱文件中心波长非仪器当前中心波长时，用此项功能将仪器中心波长检索值谱线中心波长。

零点波长校正，当对光栅光谱仪器系统检测发现系统波长值与准确波长不对应时，可通过此项对系统波长进行校正，在对话框中输入系统值与实际波长值的差值，点击确定即可。

系统参数设置，即系统调试时用到的一些数据，用户不可更改。

系统复位，当仪器在运行过程中发现有不正常现象出现时，可点击此项对系统进行重新复位，以消除影响。

3.2.3 工具栏的使用

工具栏中主要包括新建、打开、保存、打印、波长检索、参数设置、读取数据、峰值检索、刻度扩展、放大、缩小和屏幕刷新等项。其中，

新建、打开、保存、打印和参数设置等项包含于菜单栏的“文件”菜单中；波长检索包含于菜单栏中的“系统操作”菜单中；读取数据、峰值检索和刻度扩展包含于菜单栏中的“数据处理”菜单中；一次采集和连续采集包含于“采集”菜单中。

屏幕刷新，即刷新当前图谱屏幕显示以清除数据标注的字符。

停止，点击此项，系统将停止当前操作。

3.2.4 退出系统与关机

当系统测试结束后，将入射狭缝调节至0.1mm左右，点击菜单栏中“文件\退出系统”，按照提示关闭电源退出仪器操作系统。

四、实验内容和步骤：

1、开机之前，请认真检查光栅光谱仪的各个部分（单色仪主机、电控箱、接受单元、计算机、）连线是否正确，保证准确无误。

为了保证仪器的性能指标和寿命，在每次使用完毕，将入射狭缝宽度、出射狭缝宽度分别调节到0.1mm左右。

在仪器系统复位完毕后，根据测试和实验的要求分别调节入射狭缝宽度、出射狭缝宽度到合适的宽度。

2、接收单元

WDS系列多功能光栅光谱仪根据仪器型号的不同配有光电倍增管、CCD、硫化铅、钽酸锂、TGS等不同接收单元。

注意，若采用光电倍增管作为接收单元，不一定要在光电倍增管加有负高压的情况下，使其暴露在强光下（包括自然光）。在使用结束后，一定要注意调节负高压旋钮使负高压归零，然后再关闭电控箱。

3、狭缝调节

仪器的入射狭缝和出射狭缝均为直狭缝，宽度范围0~2mm连续可调，顺时针旋转为狭缝宽度加大，反之减小。每旋转一周狭缝宽度变化0.5mm，最大调节宽度为2mm。为延长使用寿命，狭缝宽度调节时应注意最大不要超过2mm。仪器测量完毕或平常不使用时，狭缝最好调节到0.1mm05mm左右。

4、电控箱的使用

电控箱包括电源、信号放大、控制系统和光源系统（氘灯和钨灯可选件，不包括在光谱仪器的标准配置中）。在运行仪器操作软件前一定要确认所有的连接线正确连接且已经打开电控箱的开关。

5、程序安装（如已安装好，则跳过）

仪器的参数设置和测量均由计算机来完成。因此在使用前必须先安装WDS系列多功能光栅光谱仪器中文操作软件。

将随仪器配备的WDS系列多功能光栅光谱仪器操作软件系统安装光盘放入光驱中，执行其中的SETUP程序，即开始进行安装，安装过程大约一分钟。

系统安装结束后，将自动在WINDOWS系统的“开始”—“程序”中建立“WDS系列光栅光谱仪”一项。执行其中的可执行程序即可运行操作系统。

6、采用标准光谱灯进行波长校准

光栅光谱仪由于运输过程中震动等各种原因，可能会使波长准确度产生偏差，因此在第一次使用前用已知的光谱线来校准仪器的波长准确度。在平常使用中，也应定期检查仪器的波长准确度。

检查仪器波长准确度可用氘灯、钠灯（标准值为589.0nm和589.6nm）、汞灯以及其它已知光谱线的来源来进行。

6.1 用氘灯谱线校准

利用氘灯的两根谱线的波长值（标准值为486.0nm和656.0nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描氘灯光谱。如果波长有偏差，用“零点波长校正”功能进行校正。

6.2 用钠灯谱线校准

利用钠灯的两根谱线的波长值（标准值为589.0nm和589.6nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描钠灯光谱。如果波长有偏差，用“零点波长校正”功能进行校正。

6.3 用汞灯谱线校准

利用汞灯的五根谱线的波长值（标准值为404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm、579.0nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描汞灯光谱。如果波长有偏差，用“波长线性校正”功能进行校正。

7、分别扫描不同光源的光谱

调节光源，使其在单色义的波长范围内有最大的输出。根据测量对系统参数进行相应的设置。根据测量学要对出射、入射狭缝宽度进行相应的设置。按“3 软件系统”进行操作。
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Ⅵ 哪里可以学习金相分析仪的使用

金相分析仪已广泛应用于电力、冶金、石化、机械、热处理和铸造、锻造等行业。

基本配置：

1.显微镜与摄像头接口；

2.数字摄像头；

3.全套软件系统

4.国产倒置金相显微镜：1250倍

金相系统软件：

一.技术特点

*32位中文WINDOWS操作环境

软件采用中文菜单，标准WINDOWS界面，适用于中文WINDOWS95、98/NT等当前主流PC操作系统，特别考虑了材料工作者的使用习惯，即使没有计算机及数字图象学的专门知识，也可在几天内使用自如。

*实时采集、存储、处理、打印金相图象

二.图象采集

系统以每秒30帧的速度实时采集图象，图象同步显示在监视器上，便于测量分析，减轻目镜观察的疲劳，更便于多人同时观察分析。图象分辨率768X576，最大灰度级256。

1.激活图象：显微图象实时显示在计算机屏幕上，调整载物台，选择最佳视场，调整显微镜焦距，使图象清晰。此时图象处于活动状态，即每秒显示25幅图象。

2.采集图象：将当前显微图象采集到内存中，图象不再实时显示在计算机屏幕上。此时图象处于冻结状态，可以进行处理。

3.保存图象：在文件对话框中选择合适的路径，输入正确的文件名，则将当前显微图象以256色BMP位图格式保存到磁盘中存档。

4.打开图象：在文件对话框中选择要打开的文件，则将磁盘中图象调出以便处理。

5.打印图象：接通打印机，也可通过视频拷贝机瞬间打印相片级的图片（选配），图片亮度、对比度、尺寸大小均可调整,免去暗室之苦。

三.图象处理

*名词解释

1.显微图象：将显微镜中观察到的试样光学金相图象通过摄像机、图象处理器的采集、数字化、量化而得到的数字图象。实际上是一个关于位置坐标的二次灰度函数。

2.灰 度：象点的明暗程度，最亮（白）为255，最暗（黑）为0

3.灰 度 级：象点的明暗程度级别数，本系统分为256级

4.图象处理：通过特定的数字模型计算，改善图象的质量

5.图象识别：提取图象中的某些特征，并根据这些特征区分不同的目标

6.图象增强：改善图象视觉效果

7.图象滤波：去除图象上的杂质，突出某些细节特征

8.图象分割：将图象分成有意义的目标区域

*图象增强

1.亮度对比度调整：在对话框中移动滚动条或直接输入一个从-50-50之间的数字，正数加大亮度对比度，负数减小亮度对比度。

2.灰度线性变换：改变灰度曲线的形状以改变输入输出灰度范围。如果输入灰度范围窄而输出范围宽，可以起到增大亮度对比度的作用；如果输入灰度范围宽而输出范围窄，可以起到突出某个灰度段图象细节的作用。

3.灰度非线性变换：改变灰度曲线的形状，可以起到增大亮度对比度、突出灰度图象细节的作用。

4.直方图均衡变换：本功能将可以起到增大图象反差、突出灰度图象细节的作用。

5.直方图线性拉伸变换：本功能将可以起到增大图象反差、突出灰度图象细节的作用。

*显示直方图

将在对话框中显示当前图象的灰度直方图，及在整个图象中，具有不同灰度值的象素出现的概率分布。

*滤波

1.平滑滤波：平滑滤波可以消除或减弱图象中的污点、水渍、划痕、空洞等噪音，有效改善图象质量。

2.锐化滤波：锐化滤波的目的在于增强图象上如晶界、相界、夹杂等细节。不同的滤波算子对不同的图象有效。

*图象分割

图象分割的目的在于将特征物与背景分离，将原始灰度图象变换为便于处理的黑白两色图象。如将球墨铸铁的石墨与基体分离，石墨用黑色表示、基体用白色表示。图象分割是图象识别的关键步骤。

*图象反视

图象反视目的在于将灰度图象黑白反置。

*图象卷积

选择不同的卷积核，利用卷积运算，可以对图象进行平滑、锐化、边缘增强等处理，有关理论请参阅图象处理的专门书籍。

*二值图象处理

各处理方法功能简介

1.腐蚀:沿特征物周围剥掉一圈，利用此功能可以消除小的噪音颗粒和麻点。

2.膨胀:沿特征物周围扩展一圈，利用此功能可以填充小的空洞。

3.开:相当于先进行腐蚀运算，然后再进行相同次数的膨胀运算，利用此功 能可以实现相连颗粒的分离。

4.闭:相当于先进行膨胀运算，然后再进行相同次数的腐蚀运算，利用此功能可以实现分离特征物的连接。如可实现断开晶界的连接重建。

5.提取晶界:提取颗粒的边界图象。

6.提取骨架:提取颗粒的骨架，如可以将晶界提取为单线宽。

*图象编辑：

1.设置窗口：默认状态下，图象处理和编辑的对象为整个图象，要对整个区域的图象进行处理，应该设置图象窗口。

2.取消窗口：要设置新窗口，先要选择“取消窗口”，再选择“设置窗口”，将图象处

理对象重新设置成整个图象区域。

3.放 大：将当前选定的窗口放大。

4.缩 小：将当前选定的窗口缩小。

5.迭加图形：可以任意画图。

6.迭加文字：可随意输入文字。

7.擦 除：移动橡皮擦除图象。

8.定 位：当前光标处象素点的位置和灰度值显示到状态栏中。

*颗粒分析

1.颗粒参数描述：

Xs，Ys:颗粒外接矩形的左上角坐标

Xe，Ye:颗粒外接矩形的右上角坐标

Xc，Yc:颗粒质心

Xw :颗粒宽度

Yw :颗粒高度

面积 :颗粒象素数

周长 :颗粒周边象素数

D0 :颗粒X方向Feret直径

D90 :颗粒Y方向Feret直径

D45 :颗粒45度方向Feret直径

D135 :颗粒135度方向Feret直径

欧拉数:颗粒欧拉数

孔数 :颗粒包含的孔数

圆度 :颗粒的形状参数之一

凹度 :颗粒的形状参数之一

圆面积径:与颗粒面积相等的圆的直径

2.粒筛选：根据不同的筛选原则，本功能可以删除或保留选定的颗粒。颗粒筛选依据颗粒大小即象素数进行。

3.填充空洞：可选择欲填充空洞的最大面积进行填充。用此功能可将尺寸小于规定值的空洞填充。

4.颗粒参数计算：可系统计算颗粒的参数，并将结果输出到报告文件对话框中。

5.颗粒统计：可系统统计颗粒的参数，并将结果输出到报告对话框中。

以上均可保存和打印。

*测量

1.设置标尺：在进行测量之前，要设置标尺，既确认当前的放大倍数，否则测量结果不准确。

2.长 度：可用鼠标移动测量线左端点、右端点及中间点进行测量，直线的真实长度实时显示在状态栏中。

3.角 度：可用鼠标移动角的顶点及两条边，角度实时显示在状态栏中。

4.矩形区域：可用鼠标矩形左上角的点和右下角的点，放大缩小矩形，矩形面积实时显示在状态栏中。

5.圆形区域：可在外接矩形左上角（右下角）用鼠标移动椭圆，椭圆面积实时显示在状态栏中。

*金相专用软件

1.平均晶粒度评级

2.碳钢石墨化评级

3.相含量测量

4.珠光体石墨化评级

5.球墨铸铁球化率评级

6.铸铁珠光体测量

7.钢中非金属夹杂物评级

8.钢的渗碳层深度测量

9.高速工具钢大块碳化物评级

10.灰铸铁石墨长度测量评级

11.混有珠光体的铁素体晶粒度评级

12.钢中石墨碳评级

13.灰铸铁磷共晶测量评级

14.碳钢石墨化检验及评级（电力部标准）

15.中碳钢马氏体针长测量

16.钢的脱碳层厚度测量

17.碳钎维孔隙率测量

18.灰铸铁珠光体片间距测量

19.包铝层测量

20.球墨铸铁石墨大小评级

21.灰铸铁碳化物数量测量

22.蠕墨铸铁蠕化率测量

23.蠕墨铸铁磷共晶数量评级

24.蠕墨铸铁碳化物数量评级

25.球墨铸铁碳化物测量

26.铸铁高锰钢夹杂物评级

27.含铜贵金属材料氧化亚铜金相检验（GB3490-
83）

28.铸造铝铜合金晶粒度（GB12852-89）

29.汽车渗碳齿轮马氏体等级测量

30.锆合金管材Fn检测

*编程指南

VMS提供的子程序均放在库文件VMS.LIB中，用C语言编制，可方便地调用，可方便用户进行二次开发。

Ⅶ icp-aes分析仪的介绍

icp-aes分析仪(atomic emission spectrometer)。主要用于无机元素的定性及定量分析，ICP-AES 电感耦合等离子体发射光谱仪作为一种大型精密的无机分析仪器。广泛地应用于稀土分析、贵金属分析、合金材料、电子产品、医药卫生、冶金、地质、石油、化工、商检以及环保等部门

Ⅷ 光谱分析仪的使用方法

使用方法：开机步骤

1、开光谱仪电源

2、开计算机电源

3、在文件管理器中用鼠标指按UV WinLab图标，此时出现UV WinLab的应用窗口，仪器已准备好，可选用适当方法进行分析操作。

一、方法：在分析中必须对分光光度计设定一些必要的参数，这些参数的组合就形成一个“方法”。Lambda系列UV WinLab软件预设四类常用方法。

1）扫描（SCAN），用以进行光谱扫描。

2）时间驱动（TIME DRIVER），用以观察一定时间内某种特定波长处纵坐标值的变化，如酶动力学。

3）波长编程（WP）用以在多个波长下测定样品在一定时间内的纵坐标值变化，并可以计算这些纵坐标值的差或比值。

4）浓度（CONC）用以建立标准曲线并测定浓度。

2.1 进入所需方法，在方法窗口中选择所需方法的文件名。

二、方法的设定

扫描、波长编程及时间驱动各项方法可根据显示的参数表，逐项按需要选用或填入，并可参考提示。

浓度

浓度方法窗口下方标签较多，说明做浓度测定时需要参数较多。用鼠标指按每一标签，可翻出下页，其上有一些需要测定的参数。必须逐页设定。

三、工具条

1）SETUP

当所需的各项参数都已在参数中设好后，必须用鼠标指按SETUP，才能将仪器调整到所设状态。

2）AUTOZERO 用鼠标指按此键，分光光度计即进行调零（在光谱扫描中则进行基线校正）。

3）START 用鼠标指按此键，光度计即开始运行所设定的方法。

四、方法运行

1）扫描，时间驱动，波长编程方法选好后，先放入参比溶液，按AUTOZERO键，进行自自动校零或背景校正结束后再放入样品，按START，分光光度计即开始进行，同时屏幕上出现图形窗口，将结果显示出来。

2）浓度

3）制订标准曲线

（1）方法选好后，确认各项数据正确，特别是REFS页中第一行要选中右上角的“edit mode”。再放入参比溶液，按AUTOZERO键自动校零或背景校正。

（2）按setup，待该图标消失后，再按“start”，按提示依次放入标准色列的各管溶液，每次都按提示进行操作。

（3）标准色列测定完毕后，屏幕上出现calibgraphwindow，显示拟合的标准线，并标出各项标准管的位置，屏幕下方还有一条ConcentraTIon mode的对话框，可以用来修改拟合的曲线类型（按 change calbraTIon），或修改标准溶液的任何一管（replace），或取消某一管（delete），或增加标准溶液管数（add）。如过已经满意，则按analyse sample键，进入样品测定窗口。

（4）标准曲线有关的各项数据，均在calibresultwindow中，可用鼠标将其调出观察。其中包括每个标准溶液的具体数据，标准曲线的回程方程式，相关系数，残差。

五、样品浓度测定

刚制定好的标准曲线接着进行样品浓度测定时

1）只需在concentraTIon mode对话框按analyse sample键，进入样品测定窗口。

2 ）按设定的样品顺序放入各样品管，每次按提示进行操作。

3 ）屏幕上出现结果窗口，结果数据将依次显示在样品表中的相应位置。

（1）利用原有的标准曲线接着进行样品浓度测定时

（2）调出所测定样品的浓度方法文件，首先调出refs页，将原设edit mode选项取消，改设左上角的using exiting calibration。重新将方法存盘，则今后再调用时即不需再作修改。

（3） 在sample页中按要求重设各种样品名称机样品信息。

（4）按工具条中setup键，将主机设到该方法所设定的条件。

（5）将参比溶液放入比色室，按autozero键做背景校零。

（6） 按start键，按设定的样品顺序放入各样品管，每次按提示进行操作。

（7） 屏幕上出现结果窗口，结果数据将依次显示在样品表中相应位置。

六、关机

1）将方法及数据存盘

2）关闭方法窗

3）退出UV WinLab

4） 取出样品及参比溶液

5）清洁光谱仪，特别是样品室

6）关闭光谱电源

7）关闭计算机电源
根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器：新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器.经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件，提高了工作效率：使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出.目前,它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量，它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。

物理原理

任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。

能量最低的能级状态称为基态能级（E0=0），其余能级称为激发态能级，而能最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。

如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，而产生原子吸收光谱。

电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，大约经过10^-8秒以后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程称原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。

Ⅸ 黄金检测仪是一个什么仪器

你好，很高兴为你回答这个问题，通常我们所说的： 黄金检测仪器，也叫黄金纯度检测仪，黄金鉴定仪等，这些都是俗名！专业名称是X荧光光谱仪，亦称XRF,设备其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。X荧光光谱测金仪是在贵金属行业的最顶端的技术。但有些这种仪器是要自己配电脑的，有些是自动带电脑的。X荧光光谱测金仪测金机，对很多人来说，都是一个陌生的仪器，为了更直观的了解“什么是X荧光光谱测金仪？”，在此西凡小编先给大家几张 X荧光光谱测金仪的图片，先从外观上认识一下测金机，直观的感觉，有了，理论上我们再加以阐述，我想，大家的理解会更透彻一点，直接上图：

这款是西凡EXF9600黄金检测仪，是目前国内最先进的具有代表性的一款实用型黄金检测仪器

西凡EXF9600黄金检测仪，高强度钣金支架+工程塑料外壳，提高了仪器的外部抗高压既规受损的能力.

内部

1、正比计数盒探测器Si-pin 145Kev±5。

2、智能信号检测电子电路。

3、高低压电源。

4、X光管

5、集成工业电脑 (打印机)

二.性能特点

1、专业贵金属检测、镀层厚度检，特别是黄金中参杂铱金可有效检测铱金。

2、智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。

3、任意多个可选择的分析和识别模型。

4、相互独立的基体效应校正模型。

5、多变量非线性回收程序

三..应用领域

1、黄金、铂金、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

2、金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。

3、贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和检测机构、电镀行业。

4、各大专院校实验室。

5、尤其是黄金及黄金饰品的含量检测。

四.测金主要优势

1 ) 3秒钟内可对金银饰品进行定性识别,30秒～60秒自动计算出首饰的精确含量

2 ) 对样品无需任何物理和化学处理，即无损检测金银饰品

3 ) 分析范围：能够分析金，铂，银，钯等含量0.3%～99.99%

4 ) 安全性能指针符合国家标准要求(光线激发源为MO靶X光管)

5) 具有温湿度自动补偿功能

6) 符合最严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式（采用滑盖设计）

7 ) 探头指针高，性能好，寿命长；

8) 全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高

9) 全球率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域。该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的精确位置的照片对应于检测结果，连同计算报告一起打印出来。

10）集成工业计算机在设备机箱内，无需外接计算机；带门锁电锁，使日常管理更便捷

五.仪器使用注意事项

影响XRF黄金纯度检测仪的检测结果的因素有很多。由于首饰产品的特殊情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果的因素（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：

a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；

b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；

c)测量时间；

d)样品的形状；

e)样品测量的面积；

f)贵金属的含量多少；

XRF光谱测金仪出来的结果通常需要全面理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。随贵金属含量的减少，可接收的范围将增大。测量结果的误差范围为0.1%—3%，也可以根据委托方的协议确定，对结果如有争议，应以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析结果为准。

Ⅹ 轻便多道γ能谱仪

多道γ能谱仪,也可以利用上述四道γ能谱仪的方法,将许多相邻的单道脉冲幅度分析器组合在一起,构成多道分析器。如果仪器道数很多,不仅构造复杂,而且很难保证性能稳定。为此多道脉冲幅度分析器采用了单道脉冲幅度分析器完全不同的原理和电路。

图4-15 多道脉冲幅度分析器原理图

如图4-15所示,多道脉冲幅度分析器是多道γ能谱仪的核心部分。现代的多道脉冲幅度分析器主要由模数转换器(ADC)、地址编码器和存储器构成。探测器将不同能量的γ射线转换成与能量成正比的不同幅度的脉冲信号,输入到ADC(Analog Digital Converter)；经内部变换,将输出的脉冲按幅度大小转换成数字表示；并对每个数字编码变换成标记性的地址码(称标码)接入一组编有地址的存储器,被分析的不同幅度的脉冲按标码选址进入相应的相邻的存储器中,实现按脉冲幅度分类记录。每个地址存储器为一道,设有一个计数器,每存一次使该道读数加一。多道分析器有2ⁿ个地址存储器,并将输入脉冲幅度分成2ⁿ个数字编码,即构成2ⁿ道脉冲幅度分析器。如取n=8即为256道；n=12,即为4096道。

一台完整的多道γ能谱仪,还需要有探测器、线性放大器,以及数据记录处理器、控制和显示系统等。

(一)便携式微机多道γ能谱仪

1.便携式多道γ能谱仪的一般特征

目前这类仪器品种很多,基本结构大同小异。主要由探测器、线性放大器、ADC模数转换器、变换控制器和单片微机(或笔记本)系统组成。如图4-16所示。

图4-16 轻便多道γ能谱仪结构原理图

探测器可以是NaI(Tl)闪烁探测器,也可以是高能量分辨率的半导体探测器。放大器一般使用低功耗CMOS高速线性运算放大器,ADC多数使用高分辨能力的线性放电工作的16位模数转换器。通过接口/控制使微机系统能够读取ADC输出的数据,并处理、显示其结果。

一台性能优良的轻便多道γ能谱仪,还要增加一些辅助设备。首先在放大器之后要接入甄别器消除噪音信号(图4-16)。其次是探测器采集脉冲信号是为了不漏计,还要对脉冲尖峰适当展宽,又增加了脉冲峰值保持电路。第三,ADC给出的道宽并不均匀,引起非线性误差较大,因此增设了滑尺电路,保持道宽均匀。

类似以上原理近年制造的轻便多道γ能谱仪,列于表4-2。

表4-2 几种轻便多道γ能谱仪(20世纪90年代以后产品)

2.ARD型便携式多道γ射线能谱仪特点和使用

现以ARD型便携式多道γ射线能谱仪为例介绍这类仪器的性能和用法。

本仪器是近年来刚刚推出的多道γ能谱仪。仪器由手持式操作台和圆柱形探测器两部分组成(图4-17)。仪器总质量4kg,用操作台采集数据时最高能达到1024道,用计算机采集数据时最高能达到4096道,可以提高微分测谱的精度,既适用于一般铀矿普查的地质生产,也适用于与铀有关的科研需要。

操作台外观尺寸37mm×105mm×185mm,操作台有USB接口,可与计算机相连,能将自动记录的数据导入计算机,在专用软件的支持下能绘制每一测点的能谱曲线图,并自动计算U、Th、K的含量；操作台还有内置GPS定位系统,可以方便定位,并将定位坐标自动存储,便于室内成图。操作台亦可悬挂于腰间,使操作者爬山更容易。操作台上有4英寸(in)320×240点的液晶显示屏,通过液晶显示屏很容易实现“人机交互”功能,操作十分方便。

图4-17 ARD型多道γ能谱仪外观

探测器φ107mm×400mm,质量3.5kg。NaI(Tl)晶体尺寸φ75mm×75mm,能量非线性误差＜5%。探测器与操作台之间由专用电缆连接。操作台与电脑之间和探测器与电脑之间也有专用电缆,这三条电缆不能互换,但电缆接口都具有“防反插豁口”,一般不易插错。仪器配有充电电池,在工作之前首先要给仪器充电。

仪器基本操作步骤：①连接仪器。在关机条件下连接操作台和探测器。②参数设置。打开操作台上的[开/关]键,此时仪器通电,但探测器需要15min左右的预热(主要是高压电源的升压过程),此时仪器不能正常工作。可利用这段时间设置参数。参数设置通过操作台实现,主要是测点测线设置、测量参数设置(选择测量道数)、稳谱状态设置、标定系数设置、能量刻度设置、电源管理、保存参数等。③测量。又分测量状态显示、测量状态键盘操作、保存测量数据、单点多次测量、连续测量等工作状态和步骤。④数据操作。主要是将操作台数据导入电脑,实现数据查询、剖面图制作、数据输出等功能。⑤仪器标定。这项工作在仪器出厂前已经做好,操作者只需使用即可。但仪器使用若干年以后或修理以后,标定工作不可少。详细操作可参阅有关说明书。

3.FD-3022-Ⅰ型便携式多道γ射线能谱仪特点和使用

仪器的外观如图4-18所示。该仪器探头和主机连在一起,形成一体机,质量为2.9kg；探测器为φ2in×2.4inBGO晶体；使用可充电的锂离子电池；并有存储器、USB和网络端口,便于数据自动记录和导出；能量分辨率≤12%；含量测试范围U和Th为1～1000U_γ,K为0.2%～100%,总道一般以U_γ的形式表示总的辐射强度。仪器也采用菜单式操作,便于实现“人机交互”。

仪器开机后,伴随一声“滴”的鸣响,液晶屏显示“SH申核”字样,随即进入搜寻界面,界面右上角出现“!”,表示仪器进入自动稳谱阶段,当“!”消失,出现“《·》”时表示系统已经稳谱,右下角会出现“已稳谱”字样,这一阶段大约持续4s。之后仪器进入主菜单,主菜单有8项功能：①测量设置：设置测量时间、重复次数和测量模式选择；②报警设置：这是置信系数和报警阈的设置功能；③查看数据：查看保存的历史数据；④本底更新：保存最新的本底数据；⑤系统设置：设置系统参数；⑥原厂设置：使用者只可查看,不得更改(仪器标定参数)；⑦仪器检定：这是标定仪器时才使用的功能；⑧退出：表示退出该界面。

图4-18 FD-3022-Ⅰ型多道γ能谱仪外观

在测量设置中,一般将测量时间设置为2min,重复测量设置为2(如遇高异常时设置为5),“启动飞行测量”置于“否”,“飞行测量时间”设置1min。报警设置时,置信度系数不要太小(一般是44.7),否则容易出现误报警；报警阈值也要适当(根据异常情况设置),一般设置300(相当于0.03%eU)。系统设置时,喇叭设置为“开”,背光设置为“手动”,其余“系统时间”和“系统日期”等设置以当前时间为准。每一种设置都需要按“保存”,否则仪器自动恢复为原设置。所有设置都通过“手柄按钮”实现,手柄按钮上的“●”表示“确定”；“▲”表示“移动光标”选中某项操作。若选中的是某位数字,则每按一次,数据增加1,直到操作者要求的数据为止。

仪器在“搜寻”状态时,画面左下方有“测量”和“菜单”两个选项；参数设置好以后,选择“测量”,仪器进入自动测量状态,画面中出现坐标轴,纵坐标表示量程,单位是cps,横坐标表示时间,测量时间一到,仪器自动出现“测量报告”,并进入自动重测阶段,若自动重测次数到了以后,仪器显示最后一次“测量报告”,操作者可抄录数据(数据可自动保存)。

注意：该仪器只有在“稳谱”的条件下测量数据才是有效数据,在未稳谱时测量数据不能使用。

(二)轻便多道X射线荧光仪

原子核受到γ射线或X射线照射后会吸收其能量,使其处于激发态。这种状态是一种不稳定状态,可自发地跃迁而回到基态,并且把多余的能量以X射线的形式释放出来。能量的高低取决于原子核内的能级差,不同的原子核,其能级差不同。故每种元素受到照射时释放不同能量的X射线,称为特征X射线。因此利用放射源对被测介质进行照射,根据介质释放能量的高低就可判别该射线是由哪种原子核释放的,即判别被测元素；又可根据释放X射线的照射量率判别该元素的大致含量。这就是X射线荧光仪的基本原理。

原子核外电子跃迁产生的X射线,能量都小于140keV。其探测原理与γ射线基本相似。由于能量低,一般采用薄窗户的薄片状(1～5mm厚)NaI(Tl)或CsI(Tl)闪烁体、正比计数器以及锂漂移型硅半导体探测器或高纯锗半导体探测器。近年来还研制成功,并推出电制冷高能量分辨率的半导体探测器,即Si-PIN节半导体探测器和镉锌碲(CZT)半导体探测器。这两种探测器适合于现场的便携式仪器使用,对小能量的分辨率高。相对而言,Si-PIN型适合低能量X射线能谱测量,CZT型适合于高能量X射线测量。

X射线是放射源激发产生的。因此,X射线探测器附带有激发源。便携式X射线荧光仪使用的激发源主要是专用的放射性同位素源,如²⁴¹Am(镅)和²³⁸Pu(钚)等。此两种元素都是通过²³⁸U核反应堆制造的元素,自然界尚未发现这两种元素。图4-19是近年来使用较多的X射线荧光仪——矿石分析仪,这一款仪器使用电子激发,因而没有放射性同位素源。

图4-19 NitonXL2型手持式矿石分析仪外观

目前市场上销售的X射线荧光仪有“手枪式”和“抽屉式”两种形态。抽屉式仪器大部分做室内分析用,手枪式可以在野外岩石上做现场分析。这类仪器能分析Fe、Ni、Cr、Ca、K、Na、Al、Cu、Pb、Zn、W、Sn、Mo、Pt族、LE(稀有金属)等常见金属元素和Si、O、S、As、Te、Se等非金属元素。分析数据用百分含量表示,目前这类仪器对常量元素(克拉克值＞1%的元素)分析精度较高,基本能达到“定量分析”的程度(如Si、Al、Fe、Ca、Na、K等),对微量元素(特别是稀有元素和贵金属)只能达到“半定量”分析的程度。

X射线荧光仪对Cu、Pb、Zn、Au、Ag等元素的分析数据还不能作为储量计算的依据。而γ辐射仪、测井仪等仪器测量的数据经铀镭平衡系数、射气系数的修正,就可以用来进行储量计算。X射线荧光仪对一些介于常量元素和微量元素之间的几个特定元素有较高的分析精度,如它对As元素的分析精度较高,而微细浸染型金矿与As之间的关系非常密切,可以通过分析As元素来达到间接找金的目的。甘肃礼县中川地区的崖湾、马泉、金山、李坝等金矿都与As关系密切,Au与As之间的相关系数能达到0.55～0.90(姜启明等,2001、2005、2012年),几乎可以说有As的地方就有Au,完全适合使用X射线荧光仪来找金。

X射线荧光仪的使用,是放射性物探仪器向非放射性矿产找矿领域扩展的重要里程碑。这种仪器可以在现场分析十多种元素的含量,可以大大提高工作效率。但这种仪器最大的缺陷是价格昂贵,目前市场价格约35万元/台。这就大大限制了该仪器大规模的使用。如NitonXL2型手持式矿石分析仪可以分析土壤和岩石,但在野外直接碰到“矿体”的概率很低,所以这类仪器目前只在一些岩石的人工或天然露头上测量。如在非放射性金属勘查的探槽、坑道壁上测量,能有效地引导刻槽取样的位置,节约大量的工作量。