垂直偏度交易

『壹』 號碼偏度是什麼意思

轉子上各部件瓢偏度測量

（1） 從危機保安器第一飛錘向上為起始位置，順序將圓周八等分，用粉筆標清序號，除高壓轉子可用推力瓦定位外，其他轉子定位需用定位壓板給予定位，防止過渡竄動，給測量造成竄動。

（2） 在直徑相對1800的方向上，固定兩只百分表，把表的測桿對准1號和5號，距邊緣10－15毫米的端面上，且與盤面垂直，按轉子旋轉方向，每次盤動轉子450，，依次對各測點進行測量。最後，在回到位置1和5測點時，如果轉動前後兩表指示差值相等，則說明測量結果基本准確。

（3） 在測量過程中，各點的指示值如果不是平衡地進行變化，表示百分表不靈活或被測盤面不規則，此時，應查明原因，加以消除，然後再進行測量，直到確信所得到的瓢偏值正確為止。

（4） 瓢偏值的計算：先算出兩表在同一位置讀數的平均值然後，求出同一直徑上兩數之差，即為該直徑上瓢偏度的絕對值，其中最大值為最大瓢偏值，即為該直徑上瓢偏度的絕對值，其中最大值為最大瓢偏值。為便於記錄和計算，可參照附表2－1的格式，

（5）檢修中，發現推力瓦塊有不均勻的摩擦現象，以及推力盤在檢修中做了修正以後，葉輪出現動靜摩擦，特別是單側磨擦；聯軸器在找中心過程中，發現端面同一直徑相對兩點之差較大等情況，更應進行仔細的檢查和測量。

『貳』 為什麼要檢驗數據的正態性

有些統計方法只適用於正態分布或近似正態分布資料，如用均數和標准差描述資料的集中或離散情況，用正態分布法確定正常值范圍及用t檢驗兩均數間相差是否顯著等，因此在用這些方法前，需考慮進行正檢驗。

它是統計判決中重要的一種特殊的擬合優度假設檢驗。常用的正態性檢驗方法有正態概率紙法、夏皮羅維爾克檢驗法(Shapiro-Wilktest)，科爾莫戈羅夫檢驗法，偏度-峰度檢驗法等。

該檢驗就是根據這個特點來檢驗分布正態性的。

三種檢驗方法

1、Anderson-Darling

選擇此項將執行正態性的Anderson-Darling檢驗 ，這是一種基於ECDF（經驗累積分布函數）的檢驗。

2、Ryan-Joiner

選擇此項將執行Ryan-Joiner檢驗 ，它類似於Shapiro-Wilk檢驗。Ryan-Joiner檢驗是一種基於相關的檢驗。

3、Kolmogorov-Smirnov

選擇此項將執行正態性的Kolmogorov-Smirnov檢驗 ，這是一種基於ECDF的檢驗。

『叄』 在四棱錐ABCDE中，AE垂直平面BCDE，∠ABC∠ABC=∠BCD=∠CDA=90°，AC=

到SPSS，在分析菜單中選擇描述統計過程描述性，然後選擇你問走在所選的統計，選擇平均數，中位數，眾數，方差，偏度和峰度就可以了變數。當然，在此之前，有必要輸入數據SAV的數據文件。

『肆』 面料上skewness什麼意思

skewness 在面料上是緯斜的意思, 也就是面料的緯向的紗線和經線的紗線不是垂直的，形成一定角度的扭曲，從而影響面料的外觀。
一般來說，緯斜的產生和所用的紗線的成分、紗線的捻度和捻向、面料的組織結構、織造工藝、印花的花型、印花和染色後整理等有關。
例如：棉等纖維素纖維，定型時不容易定死，就比較容易產生緯斜；針織單面汗布面料，由於紗線的捻向和織造的原因，也更容易產生緯斜；斜紋的面料、條子格子的面料都比較容易產生緯斜。所以需要在生產前加以注意為妥。

『伍』 什麼是「瓢偏」

瓢偏：對輪端面垂直度偏差；晃度：轉子某一橫斷面的橢圓度，直徑最大值與最小值之差；
偏心：轉子軸線與軸系中心的偏差；
轉子上各部件瓢偏度測量
（1） 從危機保安器第一飛錘向上為起始位置，順序將圓周八等分，用粉筆標清序號，除高壓轉子可用推力瓦定位外，其他轉子定位需用定位壓板給予定位，防止過渡竄動，給測量造成竄動。

（2） 在直徑相對1800的方向上，固定兩只百分表，把表的測桿對准1號和5號，距邊緣10－15毫米的端面上，且與盤面垂直，按轉子旋轉方向，每次盤動轉子450，，依次對各測點進行測量。最後，在回到位置1和5測點時，如果轉動前後兩表指示差值相等，則說明測量結果基本准確。

（3） 在測量過程中，各點的指示值如果不是平衡地進行變化，表示百分表不靈活或被測盤面不規則，此時，應查明原因，加以消除，然後再進行測量，直到確信所得到的瓢偏值正確為止。

（4） 瓢偏值的計算：先算出兩表在同一位置讀數的平均值然後，求出同一直徑上兩數之差，即為該直徑上瓢偏度的絕對值，其中最大值為最大瓢偏值，即為該直徑上瓢偏度的絕對值，其中最大值為最大瓢偏值。為便於記錄和計算，可參照附表2－1的格式，

（5）檢修中，發現推力瓦塊有不均勻的摩擦現象，以及推力盤在檢修中做了修正以後，葉輪出現動靜摩擦，特別是單側磨擦；聯軸器在找中心過程中，發現端面同一直徑相對兩點之差較大等情況，更應進行仔細的檢查和測量。

『陸』 如何區分飛機的襟翼、副翼、升降舵

飛的姿態操縱是由升降實現舵、方向舵、副翼此三舵操縱飛機沿三個轉軸，轉動。1.縱軸（從機頭中心點到機尾中心點的連線垂直於橫/立軸的直線）
2.橫軸（從機翼左右沿氣動中心的軸線且垂直於縱/立軸的直線）
3.立軸（從飛機的上表面穿過氣動重心倒下表面且垂直於縱/橫軸的直線）
以上三條直線是想像的直線，它在物理上並不存在，但是在飛機的操縱運動規律上確實存在的。
其中升降的使得飛機沿橫軸發生轉動。而襟翼的作用是增加機翼的升力，它的作用不是使飛機沿軸向轉動而是使飛機沿立軸產生水平的上下運動。

『柒』 粒度分析資料的應用

1.主要幾種沉積環境的粒度參數特點

根據福克等人對現代沉積物的研究，海灘砂、沙丘和風成坪地與河流砂這四種沉積物，在偏度和尖度上各有特點，在離散圖上也有明顯的區分。

（1）海灘砂

由於波浪能力強，海灘沉積物被浪潮反復多次搬運，得到充分的分選，泥質等物質多被沖洗掉，因而較純凈，頻率曲線大多數呈對稱的正態曲線，只有靠水邊的少數樣品中含有極少量的粗顆粒，因而具有微弱的正偏度。峰度中等至稍窄，分選好，多為中細砂。

（2）沙丘

沙丘是由海灘砂經風吹而形成的，由於風力較弱，海灘砂中粗粒部分不能被吹動除去，故沙丘砂的頻率曲線呈微弱的正偏態，尖度中等，分選比海灘砂更好，多為細砂。

（3）風成坪地

風成坪地地勢低而潮濕，其沉積物除了來自海灘砂之外，還有少量空中降落的粉砂。因此，風成坪地的頻率曲線增添一個細粒尾部，而呈負偏態，並使尖度大為加寬，分選性稍稍變差，居於上述兩者之間。

（4）河流砂

河流沉積物常由多物源供應，各物源供應物質的粒度不同，甚至不連續。河流對粒度的改造能量低，沉積物大都分選差—中等，其頻率曲線大多為雙峰或多峰曲線，峰的粒徑變化大，細礫—砂較為常見。偏度或尖度不正常，無典型值，由於河流沉積物中經常摻有黏土、粉砂等懸浮沉積物質，故河流砂沉積物常呈正偏態。

2.粒度參數離散圖

弗里德曼通過對現代海洋、河流和湖泊沉積所做的粒度分析，用粒度統計參數離散圖來區分河流和海（湖）灘沉積。

離散圖之所以能夠把不同成因的砂區別開來，主要是基於不同成因的砂具有不同的結構參數。如海（湖）灘砂分選比河流砂好得多，故標准偏差值高，偏度多為正值。因此，離散圖實際上是綜合表現結構（粒度）參數特徵的一種圖解。

如圖3-10所示，此圖為圖解偏度對圖解標准偏差的離散圖，圖中的兩個參數不是用矩法計算的，而是用圖解法計算。同時，由於弗里德曼的離散圖是用篩析資料繪制的，而圖像法的粒度資料則是薄片粒度分析資料得到的，因此必須將薄片百分位值換算成篩析百分位值，再按福克及沃德的公式計算。

3.環境判別公式

薩胡在1964年根據大量粒度分析資料，統計求出不同沉積環境下沉積物的平均粒徑、標准偏差、偏度和尖度這四個粒度參數的變化，以及一個沉積物內四個參數之間的關系，得出四個綜合公式和關系圖，以區別風成、海灘、淺海、河流和濁流這五種常見的沉積物，判別公式見表3-4。

表3-4 鑒別沉積環境的粒度參數綜合公式

應用判別公式的優點在於，只要少量的樣品甚至一個樣品的粒度參數資料就可以提供解釋環境的參考價值。如青島某砂樣篩析後計算得出的四個粒度參數：0.576；S_KΦ=-0.478；K_Φ=1.967。進而可計算得出。

將以上參數代入式（3 2），得到Y_{海灘∶淺海}=85.2348，因Y＞65.3650，則沉積物為淺海沙丘；將參數代入式（3 3），得到Y_{海灘∶淺海}=0.1772，因Y＞-7.4190，也表明沉積物為淺海沙丘。

圖3-10 某區侏羅系沉積物的結構參數散點圖

4.C-M圖

C-M圖是帕塞加於1957年提出的，是用C值和M值兩個粒度參數分別作為雙對數坐標紙上的縱、橫坐標而成的圖。其中C值為累積曲線上1%處的粒徑，相當於樣品中最粗顆粒的粒徑；M值為累積曲線上50%處的粒徑，相當於中值M_d。所以C-M圖是表示沉積物的最粗粒徑與中值的關系圖，用以說明沉積物的粗粒部分的粒度結構特點與搬運方式的關系，從而進一步判斷沉積環境。

（1）C-M圖的做法

1）首先，採集20～30個欲研究的某層沉積岩（物）樣品，這些樣品必須是同一沉積環境的沉積物，每個樣品的岩性要均勻一致，砂岩與頁岩要分開採集，不能採集不同岩性的混合樣品。採集的樣品要包括該層的全部粒度結構類型，自層底至層頂從粗到細逐次采樣，若層厚為幾米，則采樣間距約為幾厘米，以採得20～30個樣品為准。

2）用篩析或其他方法作粒度分析，繪制累積曲線圖。分別讀出各樣品的C值、M值，粒徑單位用微米（μm）或Φ值表示，如使用Φ值表示，可直接使用算術坐標紙作圖。

3）用雙對數坐標紙作圖，橫坐標代表M值，左細右粗；縱坐標代表C值，下細上粗。繪出C=M這條斜線（圖3-11，圖3-12）。

圖3-11 牽引流沉積的C-M圖像及粒度類型

4）各樣品按其C值與M值投點於上述圖上，觀察這一層的20～30個樣品點在圖上的分布范圍和構成圖形。不同搬運方式的沉積物，點分布的范圍也不一樣。注意C值與M值的分布范圍和兩者的關系，特別注意與C=M線的關系是否平行?距離遠近?同時也要注意與C軸和M軸縱、橫坐標的關系，然後與已知沉積環境的典型C-M圖對比，作為判斷該層沉積岩沉積環境的參考。

圖3-12 濁流沉積的C-M圖像

（2）兩種C-M圖

C-M圖之所以能夠用來判斷沉積環境，主要是因為沉積物的粒度特徵與搬運介質能量等水動力條件有關，尤其是沉積物的粗、細粒部分更能反映介質的特點。如最粗顆粒的粒徑C值，可以反映介質能量的上限。所以，採用C值和M值作圖，觀察沉積物的兩個參數分布范圍和變化關系，就能反映其介質特點，進而判斷沉積環境。帕塞加用已知沉積環境的樣品數據繪制了完整的牽引流沉積和濁流沉積的C-M圖（圖3-11，圖3-12）。

A.牽引流沉積的C-M圖

牽引流是以床沙載荷形式搬運其沉積物的流動，自然界河流、海流及海或湖的波浪流都是牽引流，牽引流中也包括部分懸移物質。牽引流沉積的一個典型而完整的C-M圖像可分為五段（圖3-11）。

NO段：沉積物呈滾動搬運，C值一般大於1 mm，為砂礫質沉積物，分選較好。

OP段：仍以滾動搬運為主，有極少量的懸浮搬運，C值變動不大，通常大於800 μm，M值可逐漸變小。

PQ段：懸浮搬運為主，有少量滾動搬運的顆粒。在累積曲線上可看到一個粗的尾部，故這段C值變動大，而M值基本無變化，圖形近乎垂直於M軸。

QR段：為遞變懸浮搬運，沉積物按粒度大小和密度梯度成層分布，不是均勻的，在流動中由下而上粒度逐漸變細，密度逐漸變低，C值和M值是成比例的。遞變懸浮一般位於水體的下部，由於渦流發育而形成。當渦流流速降低時迅速沉積，粗的顆粒由於細的物質迅速埋藏而不發生滾動，使沉積物中基本沒有滾動顆粒，因此表現出C值和M值之間有較密切的比例關系，圖形近於平行C=M線。

RS段：為均勻懸浮搬運，沉積物的顆粒更細，為粉砂與泥質的混合物，是粒徑和密度不隨深度而改變的完全懸浮搬運。由於均勻懸浮搬運不受底流的分選，C值大致不變，M值則向S端逐漸減小，故C-M圖形為大致平行於M軸的直線。C=200～500 μm為其上限，M＜100 μm。

以上五段N-O-P-Q-R-S呈展開的「S」狀圖形，是河流作用的一個完整圖像。除了河流沉積以外，還有其他的牽引流沉積，如遠洋沉積、近岸沉積等。

T段：為遠洋懸浮搬運，沉積物的粒徑非常細小，均為＜34 μm的泥質顆粒，飄浮於水中，可以搬運很遠，直到遠洋，沉積下來，如深海軟泥。除深海外，深湖、海灣、礁湖等靜水盆地也屬於這種類型。

近海沉積的岸流和海流也是牽引流，現代開闊的海洋中近岸和淺海地區的砂、粉砂、泥質沉積物大都是均勻懸浮搬運，往往缺乏遞變懸浮搬運，粗的砂礫仍以滾動方式搬運。

C-M圖中的N-O-P-Q-R-S各段的位置和大小是可變的，而一個成因單位的C-M圖，常常只包括少數幾個段，甚至只有一段，代表著特定的沉積環境。

在河流沉積的C-M圖中三條平行M軸的直線表示C值的大小，它們各自代表的意義如下：C_u為RS段R點附近的C值，代表均勻懸浮中最粗顆粒的粒徑；C_s為QR段Q點附近的C值，代表遞變懸浮中最粗顆粒的粒徑，若顆粒再比C_s大，則降於河底呈滾動搬運，通常C_s值小於1000 μm，大於30 μm；C_r為PQ段P點附近的C值，代表最易做滾動搬運的顆粒粒徑。

B.濁流沉積的C-M圖

濁流是一種密度流，是含有不同粒級成分、密度很大、流速很快的一種渾濁的水流，主要是以懸浮方式搬運沉積物。濁流沉積的C-M圖，其形態和分布與河流中的遞變懸浮相似，也是呈與C=M線平行的長形帶（圖3-12）。由於濁流為高密度流，沉積作用快，粗顆粒沉積後即被埋藏，因此缺乏滾動的顆粒。濁流一般流速快，當流速降低時，懸浮物移向底部，使底部密度不斷增大，最後發生整體的沉積作用，形成未分選的沉積物。沒有滾動顆粒、沉積作用快、C值隨著M值變化，這些是濁流沉積的重要特點。而且，C值和M值的變動幅度都較大，使之區別於牽引流的遞變懸浮沉積圖形。濁流或河流遞變懸浮的C-M圖與C=M線的距離，反映了沉積物的分選程度，距離越近者分選越好，越遠者分選越差。具體表示分選程度時，可以畫一條平行於C=M線的直線，平分濁流段或遞變懸浮段的散點，這條直線與C=M線的距離，用平行於M的線段長短來表示，稱為最大分選指標I_m，以Φ值計。牽引流和濁流的I_m都小於1Φ，泥石流的I_m可達6Φ。

（3）C-M圖的應用

C-M圖主要用於判斷沉積物的搬運方式，進而鑒別沉積環境。當然，C-M圖也和其他粒度參數一樣，只是判斷沉積環境的方法之一，具體應用時還要結合其他岩性、構造和生物化石等資料進行綜合考慮。

C-M圖還可應用於測量古水盆地的深度。因為C_s值是遞變懸浮中最大顆粒的粒徑，是遞變懸浮開始沉降的最大紊流速度的指標。在盆地的淺水地區，波浪作用強烈，紊流速度大，因此C_s值亦大。隨水體深度增加，波浪減弱，紊流也減弱，C_s值變小，故C_s值與盆地深度成反比關系。因此當古水盆地中有遞變懸浮沉積時，在C-M圖中求出C_s值，並勾繪出該地區的C_s等值線圖，便可了解各處的相對深度。由於各盆地的波浪強弱不一樣，因此不能得出全世界統一的C_s與深度的固定比值，只能是一個盆地內的相對深度。此外，在地層垂直剖面上，求得各層的C_s值，上下連成C_s曲線，可以了解不同地質時期盆地深度的變化和變動的快慢，從而了解本區在地史發展過程中地殼運動的狀況，地殼是上升還是下降?是穩定還是不穩定?

沉積盆地的等深圖是重要的地質基礎資料之一，與沉積環境類型圖相配合，可以了解沉積盆地在不同地質時期不同地區的沉積岩發育狀況，如岩石類型、厚度、砂體形態和分布等。

C-M圖所用的粒度參數只是中值和最粗顆粒的直徑，容易從累積曲線圖上直接讀出，不需計算，作圖也很簡單。其優點是能夠反映沉積物的搬運方式，從而作為判斷沉積環境的工具。但是，它也有不足之處，那就是目前各種沉積環境的C-M圖的典型圖形和區別還不是十分具體、完善。

5.概率成因圖解

1969年，維希爾根據現代與古代不同沉積環境的1500個樣品，使用篩析分析法，對概率坐標紙上具有不同特徵的累積曲線進行成因分類，列舉出不同沉積環境的典型曲線類型，並從水動力學角度做出初步的定性解釋。

沉積物的粒度分布特徵一般並不符合一個簡單的參數正態分布，而是由幾個對數正態次總體組成，每個次總體具有不同的平均值和標准偏差。

碎屑沉積物的粒度成分，由於搬運形式不同，可分為牽引、跳躍、懸浮三個粗細不同的次總體，每一種搬運方式的碎屑粒度分布都是對數正態分布，以各自的平均粒度和分選性區別於其他搬運方式，各個正態分布代表了不同的搬運和沉積作用。因此，在概率坐標紙上，每個次總體將單獨形成一條直線，每條直線至少有四個控制點。各直線斜率不同，表示分選性不同，直線段的交點稱為截點。有的直線在截點附近的一些點並不位於直線上，而是與相鄰的點構成一條弧線，由截點至該弧線的距離稱為混合度，用來度量兩對數正態分布之間的混合程度（圖3-13）。

懸浮搬運的粒度一般小於0.125 mm，分選差，但懸浮搬運的粒度大小取決於水流的擾動強度，擾動強度大，搬運粒度也可以大於0.1 mm，懸浮搬運的組分屬於沉積物的細粒尾部，故其所代表的直線段居於圖的末端，位於右上角。跳躍搬運的顆粒大小一般在0.1～1.0 mm之間，分選好，沉積的組分稱為跳躍組分，在粒度概率圖上居於中央，往往是許多砂質沉積物的主要組分，所佔質量分數最大，因而直線較長，一般為一條直線，有時分為兩段直線，坡度微有差別，較其他兩種組分的直線要陡。牽引搬運的顆粒最粗，分選差，牽引搬運的組分屬於沉積物中的粗粒尾部，所代表的直線段居於圖的始端，位於左下角。一個沉積物樣品可以由一種、兩種或三種搬運方式沉積下來的混合物構成，因而它的概率累積曲線可以表現為由單一的直線段或兩個、三個直線段構成，而每一次總體的分選性，可用直線段的斜率（直線與橫坐標的夾角）度量，斜率越大，則分選性越好。

圖3-13 搬運方式與粒度分布總體和截點位置的關系

6.不同沉積環境沉積物的概率成因圖解

碎屑沉積物的粒度特徵能夠反映沉積時的搬運和沉積方式，沉積環境不同、搬運介質的水動力條件不同、自然地理條件不同，則碎屑沉積物被搬運和沉積的方式不一樣，因而在粒度概率圖上的圖形亦有所區別。仔細分析各種概率圖的形狀，有助於判斷沉積環境。

（1）海灘砂的粒度概率圖

海灘砂的粒度概率圖特點是有三段或四段直線，其中跳躍組分是主要的，其線段位於概率圖中央，分為兩條直線，坡度微有差別，但均較陡，說明分選好。懸浮組分和牽引組分的含量均很少，故圖中右上角和左下角的線段均較短，有時甚至缺失牽引組分（圖3-14）。跳躍組分分為兩線段，在粒度和分選上微有變化，表明即使是流速的微小變化，都可以改變單一的碎屑總體。

（2）沙丘砂的粒度概率圖

沙丘砂粒度概率圖的特點是跳躍組分為其最主要成分，與海灘砂比較，其含量更高，常佔98%左右。而且兩線段合並成一線段，坡度更陡，分選極好，只含少量懸浮和牽引組分，有時甚至缺失牽引組分（圖3-15）。這是由於在同一時期內風力速度變化小，只能搬運一定范圍粒度的砂粒，粗砂粒因風吹不動而丟失，太細的物質又被風吹跑了。

（3）波浪帶淺海砂的粒度概率圖

自低潮線至水深5.19 m的波浪作用帶的砂質沉積物，其粒度概率圖的特點是懸浮、跳躍和牽引三種組分都有。圖上有三個直線段，跳躍組分仍是主要的成分，線段最長，坡度最陡，分選很好，這是由於波浪的多次往返搬運沉積；少量牽引組分，分選差，是由於沒有強烈的水流搬運或使之呈跳躍狀態搬運的緣故；此外，還有粉砂和泥的懸浮組分，其含量的多少視附近河流帶入細粒懸浮物質的多少和該地區波浪作用的強弱而定（圖3-16）。

圖3-14 海灘砂的粒度概率圖

（4）河流砂的粒度概率圖

由於地貌、河水流速、搬運物質的粒度和數量等因素的變化較大，所以很難概括出一種典型的河流粒度概率圖。一般來說，以河床沉積物為例（圖3-17），跳躍組分是主要成分，代表的直線段與橫坐標的夾角約為60°～65°，分選中等，粒度范圍1.75～2.50Φ；一般會有發育好的懸浮組分，含量5%～20%，它與跳躍組分直線的交切點位置在2.75～3.50Φ附近；有或無牽引組分，若有牽引組分，粒度粗於1Φ，並且常常發育在河道最深部位。若為天然堤沉積，則以懸浮組分為主，有時甚至只有一段代表懸浮組分的直線（圖3-18）。

圖3-15 海灘沙丘砂的粒度概率圖

研究發現，河道砂岩的曲線並不那麼簡單，形態也不是兩段式，可有三段式、多段式和直線型等，粒度參數也不相同。如兩段式曲線（圖3-19），截點區間寬，截點Φ值高，懸浮總體含量高，流速較急，說明當時水介質擾動強烈。

下三段式曲線（圖3-20B）是在跳躍總體的粗端增加了一個分選差的牽引總體，截點在1%附近，這種牽引總體一般出現在河流的最深水區（主流線附近）的砂岩中，上三段式曲線（圖3-20A）有兩個懸浮總體，最上邊的為均勻懸浮，中間為遞變懸浮，這種砂岩被定為急流沉積。

（5）濁流砂的粒度概率圖

濁流砂粒度概率圖的特點是有大量的或唯一的懸浮組分，可以包括黏土、粉砂、砂直到1 mm或更粗的顆粒。因為濁流密度大，流速快，故絕大部分物質都呈懸浮搬運，偶爾也有少量跳躍組分，故圖上是一條明顯的代表懸浮總體的線段（圖3-21）。在一層濁流沉積中，從底向頂，有粒度變細、懸浮組分含量增加、懸浮和跳躍兩線段交切點變細的粒序現象。由於濁流的密度、流速、攜帶物質不同，其粒度分布特點變化亦有所不同。

圖3-16 波浪帶淺海砂的粒度概率圖

（6）三角洲砂的粒度概率圖

三角洲砂質沉積物是很發育的，但是由於三角洲類型不同、砂質沉積物所處的地理位置不同，因而沉積物成因也不一樣，粒度分布特點變化很大，難以概括成一種圖形。其變化居於河流沉積與淺海沉積之間，這是因為三角洲的地理位置處於河流入口處，海陸交接帶，是海陸二者交替沉積的沉積復合體，無論在平面上或垂直剖面上，沉積環境和岩性都是多變的。

圖3-17 現代河床砂的粒度概率圖

圖3-18 天然堤、分流河道、河口沙壩、濱海線等處砂質沉積的粒度概率圖

圖3-19 延安南泥灣侏羅系河道砂岩

圖3-20 延安西杏子河侏羅系河道砂岩

總的來看，利用碎屑岩的粒度結構特徵來研究沉積環境是大有裨益的，特別是在反映不同沉積環境的水動力條件方面。但也有人對此持否定態度。實際上，粒度結構特點只是一個方面，實際應用時還要結合岩性、構造、古生物和地球化學特點進行綜合解釋，因為沉積物的形成是受多種地質因素綜合控制的。此外，還有一點須加以說明，許多粒度參數是根據已知沉積環境的現代沉積物取得的，對於機械作用形成的碎屑沉積，「將今論古」的原則雖然可用，但是古今沉積畢竟不同，因此應用上述粒度參數時應注意其局限性。同時，粒度分析方法不同，亦會得出不同的粒度分布結果，因此要注意校正，並盡可能採用一種分析方法。另外，采樣的正確與否，同樣是決定分析結果是否有效的基礎，所以采樣是最關鍵的基礎工作。

圖3-21 濁流砂岩的粒度概率圖

『捌』 電阻率剖面法的野外工作方法

(一)確定任務

正確確定工作任務是保證工作順利進行和取得顯著效果的重要環節。為此必須具備一定的地質條件和地球物理前提，這些條件和前提是：

1)被探測的地質體與圍岩的電阻率有較大的差異。

2)被探測的地質體相對於埋藏深度具有一定的規模。

3)被探測的地質體的異常應能從各干擾體的異常背景中區分顯示出來。

4)浮土電阻率很低(如沼澤、稻田區)、厚度又很大的地區或地表接地電阻過大(如凍土層厚度大於1～2m及地表為礫岩掩蓋)的地區，不利於開展電阻率剖面法工作。

此外，由於單一方法的多解性，應考慮使用多種電參數和綜合物化探工作共同完成任務。

(二)測區范圍、測網與比例尺

根據任務書的要求及工區的地質、礦產和過去物探工作等情況，合理地確定測區范圍。測區范圍應包括整個被探測對象可能存在的地段，應保證探測結果輪廓完整，其周圍應包括一定面積的「正常」地段。同時要照顧到測區邊界整齊規則。如果測區邊緣發現異常時，應根據需要擴大測區，將異常追索完整。

測線的方向應垂直被探測地質體的主要走向。如成礦受構造控制，測線應垂直構造的走向；成礦受岩性的控制，則應垂直岩層走向。當發現的異常走向與測線交角小於90°過多時，應垂直異常走向布置補充工作。

測網密度由被探測地質體的大小、埋深和工作性質來確定。普查時，至少要有1～2條測線穿過異常，每條測線上至少有3～5個測點在異常區；詳查時，至少應有3～5條測線、每條測線上至少有5～10個測點穿過異常；精測工作的測網密度要求是，當再加密點線距時，異常基本特徵不變。在野外施工中發現異常時，操作員應根據情況及時加點、加線，以了解異常基本形態。

測網密度和比例尺說明物探工作的詳細程度。一般將測線的實際距離縮小為圖上1cm，此縮小倍數即為相應的比例尺，因此物探圖上線距都是1cm。

表4-3中列舉的是常用的工作比例尺和相應的測網密度。

表4-3 電剖面法的工作比例尺及測網

測網的敷設均在電法測量開始前進行，通常以較高精度的基線控制測區和測線，測線和測點要進行編號，編號的順序為：從南至北和從西至東均為小號到大號排列。為了保證繪圖准確，基線應與附近國家三角點聯測。電阻率法具體對測量精度的要求如下。

(1)測點平面位置的要求

測點平面位置存在誤差時，展在圖上後將使按測點繪制的物探曲線以及地質體形態產生畸變，與實際不符；而且物探圖與地形圖、地質圖綜合時將發生位移，因此規范規定，測點位置在圖上最大誤差為2mm。

(2)相鄰點距和電極排列方式的精度要求

相鄰點距和電極排列方向的誤差，影響各電極之間的距離和方向，也即影響ΔU和K值。但計算ρ_s時，K值採用無誤差的標准值，於是計算出ρ_s帶有誤差，從而使ρ_s曲線帶有假象，因此敷設測點必須滿足一定的精度要求。

規范規定：當點距小於或等於10m時，相鄰點的測定極限誤差不超過6%；當點距大於10m時，相鄰點距的測定極限誤差不超過4%，A、B、M、N應排列在一條直線上，方向差不超過±5°。

(三)電極距的選擇

我們知道，勘探深度與電極距的大小有關，對於埋藏深度一定的勘探對象，若採用電極距過小，則電流探測不到目標體，因此視電阻率也就不能反映所勘探的地質體；相反，若採用的電極距過大，雖然探測深度加大但對不同地質體不一定得到最明顯的異常(有些形狀的地質體存在最佳極距)，布置大極距工作時所需的裝備也笨重，工效低，成本高，因此合理選擇電極距是電剖面法野外工作的重要問題。

1.對稱四極剖面法極距的選擇

實際工作中常用的數據如下：

AB≥(4～6)H (4-23)

普通物探

其中H為礦頂埋深。

在電剖面法中通常取MN大小與點距相等。

復合四極剖面法中，小極距AB主要反映淺部地質情況，大極距反映深部情況，兩者的比值在兩倍以上。

2.聯合剖面法極距的選擇

對於聯合剖面法的極距有供電電極距AO、BO(無窮遠∞)；測量電極距MN。

一般對AO的選擇，主要考慮勘探對象的形狀和頂部埋深的大小。對自然條件下遇到最多的脈狀礦體，為得到比較明顯的異常，就得選擇最合適的極距(稱最佳極距)，通過實驗得出AO的大小應等於或大於3倍礦頂埋深，即：

AO≥3H(H為礦頂埋深) (4-25)

大量模擬實驗還發現，對薄板狀良導性礦體而言，只有在某一特定最佳極距時，才能觀測到最明顯的異常，比這一特定最佳電極距小或大均會使異常變得不明顯，這個最佳極距為：

普通物探

式中：L為礦體沿走向的長度；d為礦脈向下延伸的長度。

如果鄰近有不均勻體，還應使：

普通物探

式中：P為礦體與不均勻體之間的距離。

在實際工作中，一般不知礦體的埋深和礦體的規模，因此必須要在開工前在地質條件好的地段做一些試驗剖面，用不同的AO進行觀測，選擇產生明顯異常的AO作為供電極距。

當需要尋找的脈狀體產狀和大小不清時，可以選擇兩三個極距工作，各極距大小成倍增加，即A′O=2AO，A″O=4AO。

對無窮遠極的選擇，一般取

OC＞(5～10)OA_最大 (4-28)

最好沿垂直測線方向布置C(∞)極。

對測量電極MN的選擇，主要考慮，MN選擇若過小，則ΔU勢必變得很小，不易准確觀測；若MN選得過大，觀測容易，但由於MN更靠近AB極，會影響勘探深度，也會降低分辨能力。所以一般選擇

普通物探

通常MN等於測點距。

3.中間梯度法電極距的選擇

在保證觀測質量可靠的前提下，供電電極距AB應盡可能大，測量電極距

普通物探

理由如下：AB越大，電流分布越深越廣，AB中部近似均勻的正常場范圍就加深加大，有利於異常幅度加大，也使觀測范圍擴大。這樣不但使異常顯示更明顯，而且可以減少轉移排列的次數，提高質量與效率。但是隨著AB的加大，ΔU讀數減小，造成觀測的困難，又影響質量和效率。故選取極距時，還要使ΔU＞20ΔU_干擾，以保證觀測質量。

(四)野外觀測及記錄要求

電阻率法的野外工作觀測比較簡單，在每個測點上，觀測MN之間的電位差ΔU和供電電流I，根據公式ρ_s=

即可算出該點的視電阻率值。在觀測ΔU之前要進行極化補償，以消除干擾電位差的影響，在觀測電流之前，把選擇開關打到「電流」擋，在小測程用「零調」把指針調到零的位置，以保證觀測電流值的准確。

野外常把觀測站布置在能控制最多觀測線和觀測點的地方，一般布置在測線中部，並且通行查線方便、避風防曬、視野開闊、比較乾燥的地方。

當測站布置好之後，首先應檢查儀器的電源電壓是否符合規定，再檢查所有外線路連接是否正確，確認無誤後再接上供電電源，進行正式觀測。記錄員要注意聽取操作員讀數，並要復誦一遍，然後記錄。及時計算和繪制草圖，如發現有突變點應及時通知操作員進行重復觀測。當兩次觀測結果相對誤差大於5%時，要及時查明原因加以消除，當曲線變化很大或異常不夠完整時，應立即加密測點或延長測線，直至得到完整異常為止。使用有存儲功能、不需要記錄的儀器，必須能逐點及時列印(或讀出)數據，以便了解是否需要重復觀測或對異常畸變做現場處理。

記錄員在記錄時，各欄應認真填寫。如發生錯誤時不得塗改，只許劃改，並註明原因。對重復觀測的結果，都要認真重復記錄下來，不得在原來記錄基礎上塗改。兩次觀測結果誤差要小於5%，認為結果正確，取兩次觀測結果的平均值繪制草圖。記錄本不得撕頁，字跡要清晰、整潔。每日工作結束後，操作員、記錄員要簽名以示負責。草圖繪制要准確、清晰，並註明工區、點線號、比例尺、剖面方位、電極排列方式和觀測日期。

(五)質量檢查及精度要求

原始資料的准確性是取得良好地質效果的重要前提。原始資料不可靠，就無法作出正確的分析和解釋。所以在野外要作一定的檢查觀測，以衡量工作質量。

了解原始資料的准確性，可通過重復觀測及系統檢查觀測兩種方式進行。前者是操作員在作野外基本觀測的過程中，發現讀數過小點、可疑點、突變點等情況，自己決定進行的，視工作需要而定，無一定的比例數規定。這種檢查是在相同工作條件下的等精度重復測量。通過多次觀測並取平均值的辦法，保證該點的觀測值達到一定的精度。後者是根據工作情況、工作成果，在一個階段內，為評價某測區總體工作質量而進行的獨立檢查觀測(不同日期、不同操作員)，其工作量不應少於總工作量的5%，檢查點應較均勻地分布在全測區，有異常的地段要重點檢查。

兩種檢查觀測的要求如下。

1.重復觀測

在採用改變供電電極接地條件或改變供電電源電壓的辦法，改變供電電流強度25%以上時需進行重復觀測。重復觀測的精度，按「相對誤差」(δ)計算，即

普通物探

式中：ρ_s為原始觀測的視電阻率值；ρ′_s為重復觀測的視電阻率值。

兩次觀測的相對誤差δ＜5%，認為是合格的。

兩次觀測不合格時，如有一次極距跑錯，則作廢之；如是同點位重復觀測超差時，則應進行多次重復，並按二比一原則取數，參加平均的n次讀數按以下公式衡量精度：

普通物探

2.系統檢查觀測

系統檢查觀測一般按照「均方相對誤差」(M)衡量精度：

普通物探

式中：Δρ_si為某一檢查點上原始觀測與檢查觀測的視電阻率差，即Δρ_si=ρ_si-ρ′_si；ρ_si為檢查觀測與原始觀測視電阻率的算術平均值，即

；n為檢查觀測的總點數。

均方相對誤差M＜4%時，認為質量是可靠的。個別點「相對誤差」最大的不超過「均方相對誤差」的3倍。相對誤差超過均方相對誤差的點數，不得超過總檢查點數的三分之一。

當遇到系統檢查觀測與原始觀測曲線形態一致，但存在明顯的系統誤差時，應查明原因後(例如，地表及淺部溫度變化、儀器性能改變等)，允許在進行系統誤差校正後，再進行均方相對誤差或相對誤差的計算。

當評價某工區工作質量時，除觀測精度之外，還應考慮最小電位差小於0.5mV的工作量不得超過總工作量的10%；觀測讀數時，指針偏轉是否超過滿偏度的

及儀器性能是否穩定等因素。

(六)野外常見的干擾及其克服

電阻率法中觀測人工供電在M、N極間產生的電位差。然而在兩測量電極間還會有天然的、隨時間而變化的電位差，有時構成不可忽視的干擾。為此要研究各種干擾的性質，掌握其規律。

1.極化不穩

當金屬電極與土壤中的水溶液接觸時，電極本身就會具有一定的「電極電位」。電極電位不但與金屬的成分有關，還與溶液的成分、濃度和溫度等因素有關。

測量電位差時，採用兩個測量電極M和N。由於電極表面氧化和通過電流時電鍍產物的不同，及電極周圍溶液中離子的成分復雜和分布不均勻等，導致M和N的電極電位不同，形成了「極化電位差」。

當某電極的上述因素有變化時，它的電極電位發生變化，引起了極化電位差隨時間而變化，簡稱「極化不穩」。極化不穩的通常表現是：儀器的指針勻速地向一個方向移動。

採用化學性質穩定的金屬作測量電極，可以減小極化不穩的現象，如採用鉛電極就優於銅電極，而鐵電極或鋁合金電極極化非常不穩定，不宜於用作測量電極。

採用「不極化電極」，能夠從根本上克服極化不穩的影響，不極化電極的構造見圖4-30，它由純銅棒浸入飽和的純硫酸銅溶液中組成，溶液通過素燒瓷杯壁的孔隙與土壤中溶液相連通，靠離子導電。這樣，當CuSO₄溶液還很純凈、銅棒尚未氧化時，由於沒有其他離子和雜質的影響，銅棒的電極電位始終保持穩定，兩個電極間就沒有極化電位差，故稱為「不極化電極」。

圖4-30 不極化電極的結構

1—素瓷罐；2—膠木塞；3—銅棒；4—膠木環；5—密封膠；6—插孔；7—橡皮墊；8—塗釉層

實際上絕對的純銅棒是沒有的，只有製作時精心注意，才能使極化電位差很小而且穩定，使用時要保持不極化電極的清潔，防止暴曬，收工後要洗凈並置於干凈的CuSO₄溶液中。使用一段時間後，瓷杯中溶液減少，銅棒氧化，會導致極化不穩，就應重新製作。

不極化電極的溶液滲漏太快，會在周圍土壤中引起過濾滲透電位，也會造成極化不穩，這種情況下，就應更換瓷杯。

電極打在流水或植物中，都易造成極化不穩，應該避免。

電極受震，或潮濕草葉因風吹動而接觸測量電極的金屬部分，會造成極化電位差無規律的改變，表現在儀器指針作無規律地擺動，也要善於判斷和消除。

通過測量電極打電話後，會造成一段時間內極化不穩，因此應測量完畢再給後面的電極打電話，時間力求短暫。若仍對觀測電位差有影響，則應專設一傳呼電話。

凡遇極化不穩，一方面要分析原因，採取措施，消除或減小極化不穩；另一方面是加大ΔU數值，使之超過干擾水平20倍以上，則干擾造成的誤差就小於5%了。

2.大地電流和游散電流的干擾

(1)大地電流

大地電流是存在於地殼中的一種隨時間變化的電流，它隨太陽的輻射強度和大氣圈電離層的狀況而變化，因而時大時小。然而在某一時間，在幾百平方千米范圍內基本保持同一方向，在兩極和赤道地帶，主要是東西方向，在中緯度地帶，則主要與南北向成30°～45°角。

大地電流的電流密度雖然很微弱，但在MN距離很長時，也能觀測到它的存在，使儀器指針作無規律的擺動，通常它產生的電位差為每千米零點幾到十幾毫伏，但強烈磁暴時可達到幾十毫伏，它的周期很復雜，短周期為零點幾秒、幾秒到幾分鍾。中等周期為一天(中午最強、夜裡弱)。長的周期為一年(夏季強、冬季弱)和11年(太陽黑子活動的長周期)。

根據上述規律，不難找到減小其影響的方法：

1)在大地電流弱的時間(冬季或避開中午時間)工作。

2)垂直大地電流的主要方向布極(通過實地觀測確定此方向)，或減小MN的距離。

3)加大供電電流，也即增大ΔU，以壓制干擾。

4)進行多次觀測，合理取捨讀數(根據誤差分析規律、按統計方法取數)。

(2)游散電流

在城市、工廠、礦山、電氣化鐵路等用電量很大的地區，由於接地線的存在，地中有強大的游散電流。在農村，也有變壓器、電機、單線照明、有線廣播網、電話等用電量小的電器，其接地線也能產生較小的游散電流。

由於用電量的大小和地點的變化，使得游散電流的電流密度大小和方向隨時發生變化，其分布比大地電流更雜亂，盡管如此，對於某一具體地區，仍然可以找出其具體的規律。一般對於一定的用電場所，靠近接地點處游散電流的電流密度非常大，遠離則減小，其分布范圍與游散電流迴路形式和大小有關(有的可視為偶極電源，有的可視為點電極，有的則可視為不等位的線電極)，大者可達數十千米，小者僅數十米。這些用電場所，有的使用交流電，有的用直流電，有的用脈動電流，各不相同。

電法工作中觀測 ΔV時，游散電流的干擾與大地電流相似，使儀器指針無規律地擺動。

減小游散電流影響的方法：

1)在停電或用電量最小的時間進行觀測。

2)採用50周濾波器，消除交流成分的干擾。

3)減小MN的距離，或盡量垂直游散電流方向布極(通過實驗確定)。

4)加大電法工作的供電電流，提高信噪比。

5)多次讀數，合理取數。

3.感應干擾

由電磁感應引起的一類干擾，統稱感應干擾。其常見表現是：

1)測量導線擺動：切割地磁場的磁力線，使得測量迴路(可視為一個大線圈)內產生感應電動勢，造成儀器指針左右擺動。克服辦法是：刮風天氣測量導線一定要落地鋪放，不得懸空或架在莊稼、灌木上。在剖面裝置和中梯裝置中，把M線和N線雙股絞合，可以抗干擾。

2)供電-測量線間的感應：供電迴路與測量迴路相當於兩個線圈，當AB線與MN線很長而且接近時，兩個線圈間的互感較大，因此，當供電和斷電後的瞬間，在測量線路中產生感應電動勢，使儀器指針向右(供電時)或向左(斷電時)沖擊一下。AB和MN導線越長越靠近，供電電流越大，感應電動勢就越大。減小感應的辦法是：對於測深裝置，鋪放線時要使大極距A、B線(

≥100m)距M、N線遠些，間距應大於

；對於剖面和梯度裝置，採用MN線絞合的方法抗干擾。由於感應電動勢只是在通斷電後瞬時產生和消失(約為

s)，因此觀測ΔV時，應避開這段時間。

3)測量導線臨近並平行高壓或低壓輸電線有較長距離時，由於50周的交變磁場的感應，使指針抖動，影響讀數的准確性。測量導線應平行電訊電纜鋪放，當電纜傳送信號時，測量線路中產生相應的感應脈沖。減小這些感應的辦法同前，或使測量導線垂直穿過輸電線，遠離後再平行鋪放。

以上講述了各類干擾的特點及我國目前生產使用的各種減小和消除干擾的辦法。近年來，隨著電子技術的飛速發展，已出現了一些新儀器和方法技術，例如：有的儀器具有自動跟蹤極化補償的性能；有的應用了微處理機，採用多次疊加技術，自動重復讀數，直到觀測精度達到所要求的誤差范圍為止。新儀器和新方法技術的採用，大大提高了觀測質量和工作效率，但是，在野外工作布置中仍需注意提高信噪比，不允許在干擾很強時，單靠儀器去消除。

(七)漏電

漏電可發生在供電線路(包括電源)、測量線路和儀器等各部位。除儀器和控制面板漏電容易在操作中發現外，其他部位的漏電不經專門檢查很難發現，如不注意，將嚴重影響觀測質量。

漏電檢查的方法和要求如下：

1)供電導線(包括電源輸出引線)及測量導線用兆歐表檢查時，其對地的絕緣電阻分別不小於2mΩ和5mΩ。將A或B輪換懸空並供電，通過測量電位差和電流以檢查供電導線漏電時(要用干電池當電源)，要求其等效漏電值分別小於該點電位差及電流測定值的2%和1%，兩者應同時測定。將M和N輪換懸空，AB供電並觀測電位差以檢查測量導線的漏電，要求其漏電電位差小於該點電位差的2%，當測量導線嚴重漏電時，還可根據極化電位差的不正常現象判斷出來。

2)發電機外殼(或干電池箱)對地的絕緣電阻用兆歐表檢查，應大於10mΩ。儀器內外殼間絕緣電阻應大於200mΩ。

3)當發現有不能允許的漏電存在時，則上一次漏電檢查後的所有觀測數據應作廢，待消除漏電後再重新觀測。

(八)接地電阻

在野外工作中，電流由電極向岩石分散流出和流回。當電極打在潮濕土壤時，電流就容易流入地下，因此供電迴路電流就大，說明電流受阻力小；反之，當電極打入乾燥、電阻率高的砂礫岩中，供電就很困難，說明受到的阻力大。我們稱電流由電極分散流向岩石這個大導體所受的阻力叫做「接地電阻」。一個電極的接地電阻，是指從這個電極表面到無窮遠之間的大地電阻。

以半球形電極為例，通過這種電極向電阻率為ρ 的岩石供電，電流呈輻射狀流出，用求點電源電位公式的方法求出半球形電極的接地電阻，如圖4-31。

圖4-31 半球形電極接地電阻的計算

普通物探

式中：r₀為半球形電極半徑。

電剖面法工作常用銅質、鐵質棒狀電極，其接地電阻為：

普通物探

式中：h為電極入土深度；r₀為電極半徑；ρ為岩石電阻率。

實際上接地電阻要比上兩式計算值大得多。因為公式是在電極與岩石緊密接觸、沒有一點空隙的條件下計算得來的。而實際工作時，電極不可能接觸的十分緊密。

由公式(4-34)和(4-35)可知：①當電極半徑(r₀)大時，接地電阻小；②棒狀電極入土深度(h)加大時，接地電阻小；③接地電阻與岩石電阻率成正比。

供電電極接地電阻越大，對電源消耗也越大，例如，當供電電極AB 的接地電阻為100Ω時，要使供電電流強度達到720mA，根據歐姆定律，只要72 V電池一箱就可以。如果AB之間的接地電阻為1000Ω時，供同樣電流就需要72 V電池10箱。因此在電法勘探中我們應盡量減小供電電極AB的接地電阻。

為減小電極的接地電阻，關鍵是減小電極附近的電阻，可採用以下辦法：

1)增大電極與岩石接觸的表面積，通常是將電極打深一些，並增加電極數目，即採用復合電極的辦法，要求各電極間距離大於入土深度的3倍，且保證接觸良好，這樣每根電極的作用能夠充分發揮出來。n根電極並聯後，總接地電阻降低為單根的n分之一。

2)如果地表很乾燥，可往電極處澆水，來減小關鍵部分的岩石電阻率。或在不影響電極位置誤差的情況下，盡量選擇電阻率低的潮濕地方打電極。

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通過拷貝建立一個圖層 【Ctrl】+【J】
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與前一圖層編組 【Ctrl】+【G】
取消編組 【Ctrl】+【Shift】+【G】
向下合並或合並聯接圖層 【Ctrl】+【E】
合並可見圖層 【Ctrl】+【Shift】+【E】
蓋印或蓋印聯接圖層 【Ctrl】+【Alt】+【E】
蓋印可見圖層 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【E】
將當前層下移一層 【Ctrl】+【[】
將當前層上移一層 【Ctrl】+【]】
將當前層移到最下面 【Ctrl】+【Shift】+【[】
將當前層移到最上面 【Ctrl】+【Shift】+【]】
激活下一個圖層 【Alt】+【[】
激活上一個圖層 【Alt】+【]】
激活底部圖層 【Shift】+【Alt】+【[】
激活頂部圖層 【Shift】+【Alt】+【]】
調整當前圖層的透明度(當前工具為無數字參數的,如移動工具) 【0】至【9】
保留當前圖層的透明區域(開關) 【/】<br>
投影效果(在」效果」對話框中) 【Ctrl】+【1】
內陰影效果(在」效果」對話框中) 【Ctrl】+【2】
外發光效果(在」效果」對話框中) 【Ctrl】+【3】
內發光效果(在」效果」對話框中) 【Ctrl】+【4】
斜面和浮雕效果(在」效果」對話框中) 【Ctrl】+【5】
應用當前所選效果並使參數可調(在」效果」對話框中) 【A】
圖層混合模式<br>
循環選擇混合模式 【Alt】+【-】或【+】
正常 【Ctrl】+【Alt】+【N】
閾值（點陣圖模式） 【Ctrl】+【Alt】+【L】
溶解 【Ctrl】+【Alt】+【I】
背後 【Ctrl】+【Alt】+【Q】
清除 【Ctrl】+【Alt】+【R】
正片疊底 【Ctrl】+【Alt】+【M】
屏幕 【Ctrl】+【Alt】+【S】
疊加 【Ctrl】+【Alt】+【O】
柔光 【Ctrl】+【Alt】+【F】
強光 【Ctrl】+【Alt】+【H】
顏色減淡 【Ctrl】+【Alt】+【D】
顏色加深 【Ctrl】+【Alt】+【B】
變暗 【Ctrl】+【Alt】+【K】
變亮 【Ctrl】+【Alt】+【G】
差值 【Ctrl】+【Alt】+【E】
排除 【Ctrl】+【Alt】+【X】
色相 【Ctrl】+【Alt】+【U】
飽和度 【Ctrl】+【Alt】+【T】
顏色 【Ctrl】+【Alt】+【C】
光度 【Ctrl】+【Alt】+【Y】
去色 海棉工具+【Ctrl】+【Alt】+【J】
加色 海棉工具+【Ctrl】+【Alt】+【A】
暗調 減淡/加深工具+【Ctrl】+【Alt】+【W】
中間調 減淡/加深工具+【Ctrl】+【Alt】+【V】
高光 減淡/加深工具+【Ctrl】+【Alt】+【Z】
選擇功能
全部選取 【Ctrl】+【A】
取消選擇 【Ctrl】+【D】
重新選擇 【Ctrl】+【Shift】+【D】
羽化選擇 【Ctrl】+【Alt】+【D】
反向選擇 【Ctrl】+【Shift】+【I】
路徑變選區 數字鍵盤的【Enter】
載入選區 【Ctrl】+點按圖層、路徑、通道面板中的縮約圖
濾鏡
按上次的參數再做一次上次的濾鏡 【Ctrl】+【F】
退去上次所做濾鏡的效果 【Ctrl】+【Shift】+【F】
重復上次所做的濾鏡(可調參數) 【Ctrl】+【Alt】+【F】
選擇工具(在「3D變化」濾鏡中) 【V】
立方體工具(在「3D變化」濾鏡中) 【M】
球體工具(在「3D變化」濾鏡中) 【N】
柱體工具(在「3D變化」濾鏡中) 【C】
軌跡球(在「3D變化」濾鏡中) 【R】
全景相機工具(在「3D變化」濾鏡中) 【E】
視圖操作<
顯示彩色通道 【Ctrl】+【~】
顯示單色通道 【Ctrl】+【數字】
顯示復合通道 【~】
以CMYK方式預覽(開關) 【Ctrl】+【Y】
打開/關閉色域警告 【Ctrl】+【Shift】+【Y】
放大視圖 【Ctrl】+【+】
縮小視圖 【Ctrl】+【-】
滿畫布顯示 【Ctrl】+【0】
實際象素顯示 【Ctrl】+【Alt】+【0】
向上卷動一屏 【PageUp】
向下卷動一屏 【PageDown】
向左卷動一屏 【Ctrl】+【PageUp】
向右卷動一屏 【Ctrl】+【PageDown】
向上卷動10 個單位 【Shift】+【PageUp】
向下卷動10 個單位 【Shift】+【PageDown】
向左卷動10 個單位 【Shift】+【Ctrl】+【PageUp】
向右卷動10 個單位 【Shift】+【Ctrl】+【PageDown】
將視圖移到左上角 【Home】
將視圖移到右下角 【End】
顯示/隱藏選擇區域 【Ctrl】+【H】
顯示/隱藏路徑 【Ctrl】+【Shift】+【H】
顯示/隱藏標尺 【Ctrl】+【R】
顯示/隱藏參考線 【Ctrl】+【;】
顯示/隱藏網格 【Ctrl】+【」】
貼緊參考線 【Ctrl】+【Shift】+【;】
鎖定參考線 【Ctrl】+【Alt】+【;】
貼緊網格 【Ctrl】+【Shift】+【」】
顯示/隱藏「畫筆」面板 【F5】
顯示/隱藏「顏色」面板 【F6】
顯示/隱藏「圖層」面板 【F7】
顯示/隱藏「信息」面板 【F8】
顯示/隱藏「動作」面板 【F9】
顯示/隱藏所有命令面板 【TAB】
顯示或隱藏工具箱以外的所有調板 【Shift】+【TAB】
文字處理(在」文字工具」對話框中)<br>
左對齊或頂對齊 【Ctrl】+【Shift】+【L】
中對齊 【Ctrl】+【Shift】+【C】
右對齊或底對齊 【Ctrl】+【Shift】+【R】
左／右選擇 1 個字元 【Shift】+【←】/【→】
下／上選擇 1 行 【Shift】+【↑】/【↓】
選擇所有字元 【Ctrl】+【A】
選擇從插入點到滑鼠點按點的字元 【Shift】加點按
左／右移動 1 個字元 【←】/【→】
下／上移動 1 行 【↑】/【↓】
左／右移動1個字 【Ctrl】+【←】/【→】
將所選文本的文字大小減小2 點象素 【Ctrl】+【Shift】+【<】
將所選文本的文字大小增大2 點象素 【Ctrl】+【Shift】+【>】
將所選文本的文字大小減小10 點象素 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【<】
將所選文本的文字大小增大10 點象素 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【>】
將行距減小2點象素 【Alt】+【↓】
將行距增大2點象素 【Alt】+【↑】
將基線位移減小2點象素 【Shift】+【Alt】+【↓】
將基線位移增加2點象素 【Shift】+【Alt】+【↑】
將字距微調或字距調整減小20/1000ems 【Alt】+【←】
將字距微調或字距調整增加20/1000ems 【Alt】+【→】
將字距微調或字距調整減小100/1000ems 【Ctrl】+【Alt】+【←】
將字距微調或字距調整增加100/1000ems 【Ctrl】+【Alt】+【→】<

ctrl+:放大
ctrl-:縮小
ctrl+』:顯示參考線
ctrl+;:對齊
ctrl+0:滿畫布顯示(此處圓圈為」零」,非英文字母」o」)
ctrl+a:全選
ctrl+b:色彩平衡
ctrl+c:復制
ctrl+d:取消選取
ctrl+e:合並圖層
ctrl+delete:背景色填充(或ctrl+backspace)
ctrl+f:重復上次濾鏡
ctrl+g:與前一圖層編組
ctrl+h:顯示額外的選項(具體參看視圖->顯示->顯示額外的選項)
ctrl+l:調出色階面板
ctrl+i:反相
ctrl+j:通過拷貝的圖層
ctrl+l:色階調整
ctrl+m:曲線
ctrl+n:新建(或ctrl+雙擊空白區域)
ctrl+打開(或雙擊白區域)
ctrl+p:列印
ctrl+q:退出photoshop
ctrl+t:自由變換
ctrl+r:隱藏標尺
ctrl+s:保存
ctrl+u:色相飽和度
ctrl+v:粘貼
ctrl+w:關閉圖象
ctrl+x:剪切
ctrl+y:校樣顏色
ctrl+z:撤消上一步操作
ctrl+拖畫面:移動當前圖層
ctrl+單擊圖層面板上的某層:將該層載入選區
ctrl+alt+;:鎖定參考線
ctrl+alt+』:顯示網格
ctrl+alt+0:實際像素顯示(或雙擊放大鏡工具,此處圓圈為」零」,非英文字母」o」)
ctrl+alt+d:羽化
ctrl+alt+打開為
ctrl+alt+p:列印選項
ctrl+alt+x:抽出
ctrl+alt+z:撤消上一步操作(可不斷向前撤消)
ctrl+shift+c:合並拷貝
ctrl+shift+d:重新選擇
ctrl+shift+e:合並可見圖層
ctrl+shift+f:消退畫筆透明度
ctrl+shift+g:取消編組圖層
ctrl+shift+h:顯示目標路徑
ctrl+shift+i:反選
ctrl+shift+j:通過剪切的圖層
ctrl+shift+k:顏色設置
ctrl+shift+l:自動色階
ctrl+shift+n:新建圖層
ctrl+shift+m:進入ImageReady
ctrl+shift+p:頁面設置
ctrl+shift+s:另存為
ctrl+shift+t:再次變換
ctrl+shift+x:液化
ctrl+shift+y:色域警告
ctrl+shift+z:向前
ctrl+shift+u:去色
ctrl+shift+v:粘貼入
ctrl+shift+w:關閉全部圖象
ctrl+shift+alt+l:自動對比度
ctrl+shift+alt+s:保存為wab格式
alt+delete:前景色填充(或alt+backspace)
alt+單擊畫面:選擇游標所在點的顏色
shift+backspace:填充選區

『拾』 急·需要CoreIDRAW photoshop cs 快捷鍵 全一些

CDR12
運行 Visual Basic 應用程序的編輯器 【Alt】+【F11】
啟動「這是什麼?」幫助 【Shift】+【F1】
回復到上一個動作 【Ctrl】+【Z】
回復到上一個動作 【Alt】+【BackSpace】
復制選取的物件並置於「剪貼簿」中 【Ctrl】+【C】
復制選取的物件並置於「剪貼簿」中 【Ctrl】+【INS】
將指定的屬性從另一個物件復制至選取的物件 【Ctrl】+【Shift】+【A】
剪下選取的物件並置於「剪貼簿」中 【Ctrl】+【X】
剪下選取的物件並置於「剪貼簿」中 【Shift】+【DEL】
刪除選取的物件 【DEL】
將「剪貼簿」的內容貼到圖文件內 【Ctrl】+【V】
將「剪貼簿」的內容貼到圖文件內 【Shift】+【INS】
再制選取的物件並以指定的距離偏移 【Ctrl】+【D】
重復上一個動作 【Ctrl】+【R】
回復到上一個復原的動作 【Ctrl】+【Shift】+【Z】
打開「大小泊塢窗口」 【Alt】+【F10】
打開「縮放與鏡像泊塢窗口」 【Alt】+【F9】
打開「位置泊塢窗口」 【Alt】+【F7】
打開「旋轉泊塢窗口」 【Alt】+【F8】
包含指定線性度量線屬性的功能 【Alt】+【F2】
啟動「屬性列」並跳到第一個可加上標簽的項目 【Ctrl】+【ENTER】
打開「符號泊塢窗口」 【Ctrl】+【F11】
垂直對齊選取物件的中心 【C】
水平對齊選取物件的中心 【E】
將選取物件向上對齊 【T】
將選取物件向下對齊 【B】
將選取物件向右對齊 【R】
將選取物件向左對齊 【L】
對齊選取物件的中心至頁 【P】
將物件貼齊格點 (切換式) 【Ctrl】+【Y】
繪制對稱式多邊形；按兩下即可打開「選項」對話框的「工具箱」標簽 【Y】
繪制一組矩形；按兩下即可打開「選項」對話框的「工具箱」標簽 【D】
為物件新增填色；在物件上按一下並拖動即可應用漸變填色 【G】
將物件轉換成網狀填色物件 【M】
繪制矩形；按兩下這個工具便可建立頁面框架 【F6】
繪制螺旋紋；按兩下即可打開「選項」對話框的「工具箱」標簽 【A】
繪制橢圓形及圓形；按兩下這個工具即可打開「選項」對話框的「工具箱」標簽 【F7】
新增文字；按一下頁面即可加入美工文字；按一下並拖動即可加入段落文字 【F8】
擦拭一個圖形的部份區域，或將一個物件分為兩個封閉的路徑 【X】
在目前工具及「挑選」工具間切換 【空格】
繪制曲線，並對筆觸應用預設效果、筆刷、噴灑、書寫式或壓力感應效果 【I】
選取最近使用的「曲線」工具 【F5】
編輯物件的節點；按兩下工具在所選取物件上選取全部節點 【F10】
將選取的物件放置到最後面 【Shift】+【PageDown】
將選取的物件放置到最前面 【Shift】+【PageUp】
將選取的物件在物件的堆疊順序中向後移動一個位置 【Ctrl】+【PageDown】
將選取的物件在物件的堆疊順序中向前移動一個位置 【Ctrl】+【PageUp】
選取整個圖文件 【Ctrl】+【A】
打散選取的物件 【Ctrl】+【K】
解散選取物件或物件群組所組成的群組 【Ctrl】+【U】
將選取的物件組成群組 【Ctrl】+【G】
將選取的物件轉換成曲線；「轉換成曲線」可提供更多更有彈性的編輯功能 【Ctrl】+【Q】
將外框轉換成物件 【Ctrl】+【Shift】+【Q】
組合選取的物件 【Ctrl】+【L】
打開「拼字檢查器」；檢查選取文字的拼字是否正確 【Ctrl】+【F12】
依據目前選取區域或工具顯示物件或工具屬性 【Alt】+【ENTER】
將標准填色應用至物件 【Shift】+【F11】
將漸層填色應用至物件 【F11】
打開「外框筆」對話框 【F12】
打開「外框色」對話框 【Shift】+【F12】
以大幅微調的設定值將物件向上微調 【Shift】+【↑】
將物件向上微調 【↑】
以大幅微調的設定值將物件向下大幅微調 【Shift】+【↓】
將物件向下微調 【↓】
以大幅微調的設定值將物件向右微調 【Shift】+【←】
將物件向右微調 【←】
以大幅微調的設定值將物件向左微調 【Shift】+【→】
將物件向左微調 【→】
儲存作用中繪圖 【Ctrl】+【s】
打開一個現有的繪圖文件 【Ctrl】+【O】
列印作用中圖文件 【Ctrl】+【P】
將文字或物件以另一種格式輸出 【Ctrl】+【E】
輸入文字或物件 【Ctrl】+【I】
建立一個新的繪圖文件 【Ctrl】+【N】
打開「編輯文字」對話框 【Ctrl】+【Shift】+【T】
將文字變更為垂直 (切換) 【Ctrl】+【.】
變更文字為水平方向 【Ctrl】+【,】
設定文字屬性的格式 【Ctrl】+【T】
新增/刪除文字物件的項目符號 (切換式) 【Ctrl】+【M】
將美工文字轉換成段落文字，或將段落文字轉換為美工文字 【Ctrl】+【F8】
將文字對齊基準線 【Alt】+【F12】
重繪繪圖窗口 【Ctrl】+【w】
在最後兩個使用的檢視品質間互相切換 【Shift】+【F9】
以全屏幕預覽的方式顯示圖文件 【F9】
執行顯示比例動作然後返回前一個工具 【F2】
打開「檢視管理員泊塢窗口」 【Ctrl】+【F2】
按下並拖動這個工具便可平移繪圖 【H】
縮小繪圖的顯示比例 【F3】
顯示繪圖中的全部物件 【F4】
僅放大顯示選取物件的比例 【Shift】+【F2】
顯示整個可列印頁面 【Shift】+【F4】
將繪圖向上平移 【Alt】+【↑】
將繪圖向下平移 【Alt】+【↓】
將繪圖向右平移 【Alt】+【←】
將繪圖向左平移 【Alt】+【→】
打開「濾鏡泊塢窗口」 【Alt】+【F3】
打開設定 CorelDRAW 選項的對話框 【Ctrl】+【J】
打開「圖形與文字樣式泊塢窗口」 【Ctrl】+【F5】
到上一頁 【PageUp】
到下一頁 【PageDown】
將字體大小縮減為前一個點數 【Ctrl】+數字鍵盤【2】
將字體大小縮減為「字體大小列表」中的前一個設定 【Ctrl】+數字鍵盤【4】
將字體大小增加為「字體大小列表」中的下一個設定 【Ctrl】+數字鍵盤【6】
將字體大小增加為下一個點數 【Ctrl】+數字鍵盤【8】

文字編輯

變更文字對齊方式為不對齊 【Ctrl】+【N】
變更文字對齊方式為強迫上一行完全對齊 【Ctrl】+【H】
新增/刪除文字物件的首字放大 (切換式) 【Ctrl】+【Shift】+【D】
變更文字對齊方式為完全對齊 【Ctrl】+【J】
變更文字對齊方式為向右對齊 【Ctrl】+【R】
變更文字對齊方式為向左對齊 【Ctrl】+【L】
變更文字對齊方式為置中對齊 【Ctrl】+【E】
變更選取文字的大小寫 【Shift】+【F3】
顯示非列印字元 【Ctrl】+【Shift】+【C】
將文字的脫字型大小 (^) 移至框架終點 【Ctrl】+【END】
將文字的脫字型大小 (^) 移至框架起點 【Ctrl】+【HOME】
將文字的脫字型大小 (^) 移至文字起點 【Ctrl】+【PageUp】
將文字的脫字型大小 (^) 移到文字終點 【Ctrl】+【PageDown】
將文字的脫字型大小 (^) 向上移一段 【Ctrl】+【↑】
將文字的脫字型大小 (^) 向上移一個框架 【PageUp】
將文字的脫字型大小 (^) 向上移一行 【↑】
將文字的脫字型大小 (^) 向下移一段 【Ctrl】+【↓】
將文字的脫字型大小 (^) 向下移一個框架 【PageDown】
將文字的脫字型大小 (^) 向下移一行 【↓】
刪除文字脫字型大小 (^) 右方單字 【Ctrl】+【DEL】
刪除文字脫字型大小 (^) 右方字元 【DEL】
選取文字脫字型大小 (^) 右方單字 【Ctrl】+【Shift】+【←】
選取文字脫字型大小 (^) 右方字元 【Shift】+【←】
選取文字脫字型大小 (^) 左方單字 【Ctrl】+【Shift】+【→】
選取文字脫字型大小 (^) 左方字元 【Shift】+【→】
選取上移一段的文字 【Ctrl】+【Shift】+【↑】
選取上移一個框架的文字 【Shift】+【PageUp】
選取上移一行的文字 【Shift】+【↑】
選取下移一段的文字 【Ctrl】+【Shift】+【↓】
選取下移一個框架的文字 【Shift】+【PageDown】
選取下移一行的文字 【Shift】+【↓】
選取至框架起點文字 【Ctrl】+【Shift】+【HOME】
選取至框架終點文字 【Ctrl】+【Shift】+【END】
選取至文字起點的文字 【Ctrl】+【Shift】+【PageUp】
選取至文字終點的文字 【Ctrl】+【Shift】+【PageDown】
選取至行首文字 【Shift】+【HOME】
選取至行首文字 【Shift】+【END】
將文字的脫字型大小 (^) 移至行首 【HOME】
將文字的脫字型大小 (^) 移至行尾 【END】
將文字的脫字型大小 (^) 向右移一個字 【Ctrl】+【←】
將文字的脫字型大小 (^) 向右移一個字元 【←】
將文字的脫字型大小 (^) 向左移一個字 【Ctrl】+【→】
將文字的脫字型大小 (^) 向左移一個字元 【→】
打開「選項」對話框並選取「文字」選項頁面 【Ctrl】+【F10】
尋找圖文件中指定的文字 【Alt】+【F3】
顯示圖文件中所有樣式的列表 【Ctrl】+【Shift】+【S】
變更文字樣式為粗體 【Ctrl】+【B】
變更文字樣式為有底線 【Ctrl】+【U】
變更全部文字字元為小寫字母 【Ctrl】+【Shift】+【K】
變更文字樣式為斜體 【Ctrl】+【I】
顯示所有可使用或作用中的粗細變化 【Ctrl】+【Shift】+【W】
顯示所有可使用或作用中的字體列表 【Ctrl】+【Shift】+【F】
顯示所有可使用或作用中的 HTML 字體大小列表 【Ctrl】+【Shift】+【H】
將字體大小縮減為前一個點數 【Ctrl】+數字鍵盤【2】
將字體大小縮減為「字體大小列表」中的前一個設定 【Ctrl】+數字鍵盤【4】
將字體大小增加為「字體大小列表」中的下一個設定 【Ctrl】+數字鍵盤【6】
將字體大小增加為下一個點數 【Ctrl】+數字鍵盤【8】
顯示所有可使用或作用中的字體大小列表 【Ctrl】+【Shift】+【P】
Illustrator10快捷鍵匯總
工具箱(多種工具共用一個快捷鍵的可同時按【Shift】加此快捷鍵選取,當按下CapsLock】鍵時，可直接用此快捷鍵切換)

移動工具 【V】
直接選取工具、組選取工具 【A】
鋼筆、添加錨點、刪除錨點、改變路徑角度 【P】
添加錨點工具 【+】
刪除錨點工具 【-】
文字、區域文字、路徑文字、豎向文字、豎向區域文字、豎向路徑文字 【T】
橢圓、多邊形、星形、螺旋形 【L】
增加邊數、倒角半徑及螺旋圈數（在【L】、【M】狀態下繪圖） 【↑】
減少邊數、倒角半徑及螺旋圈數（在【L】、【M】狀態下繪圖） 【↓】
矩形、圓角矩形工具 【M】
畫筆工具 【B】
鉛筆、圓滑、抹除工具 【N】
旋轉、轉動工具 【R】
縮放、拉伸工具 【S】
鏡向、傾斜工具 【O】
自由變形工具 【E】
混合、自動勾邊工具 【W】
圖表工具（七種圖表） 【J】
漸變網點工具 【U】
漸變填色工具 【G】
顏色取樣器 【I】
油漆桶工具 【K】
剪刀、餐刀工具 【C】
視圖平移、頁面、尺寸工具 【H】
放大鏡工具 【Z】
默認前景色和背景色 【D】
切換填充和描邊 【X】
標准屏幕模式、帶有菜單欄的全屏模式、全屏模式 【F】
切換為顏色填充 【<】
切換為漸變填充 【>】
切換為無填充 【/】
臨時使用抓手工具 【空格】
精確進行鏡向、旋轉等操作 選擇相應的工具後按【回車】
復制物體 在【R】、【O】、【V】等狀態下按【Alt】+【拖動】

文件操作

新建圖形文件 【Ctrl】+【N】
打開已有的圖像 【Ctrl】+【O】
關閉當前圖像 【Ctrl】+【W】
保存當前圖像 【Ctrl】+【S】
另存為... 【Ctrl】+【Shift】+【S】
存儲副本 【Ctrl】+【Alt】+【S】
頁面設置 【Ctrl】+【Shift】+【P】
文檔設置 【Ctrl】+【Alt】+【P】
列印 【Ctrl】+【P】
打開「預置」對話框 【Ctrl】+【K】
回復到上次存檔之前的狀態 【F12】

編輯操作

還原前面的操作(步數可在預置中) 【Ctrl】+【Z】
重復操作 【Ctrl】+【Shift】+【Z】
將選取的內容剪切放到剪貼板 【Ctrl】+【X】或【F2】
將選取的內容拷貝放到剪貼板 【Ctrl】+【C】
將剪貼板的內容粘到當前圖形中 【Ctrl】+【V】或【F4】
將剪貼板的內容粘到最前面 【Ctrl】+【F】
將剪貼板的內容粘到最後面 【Ctrl】+【B】
刪除所選對象 【DEL】
選取全部對象 【Ctrl】+【A】
取消選擇 【Ctrl】+【Shift】+【A】
再次轉換 【Ctrl】+【D】
發送到最前面 【Ctrl】+【Shift】+【]】
向前發送 【Ctrl】+【]】
發送到最後面 【Ctrl】+【Shift】+【[】
向後發送 【Ctrl】+【[】
群組所選物體 【Ctrl】+【G】
取消所選物體的群組 【Ctrl】+【Shift】+【G】
鎖定所選的物體 【Ctrl】+【2】
鎖定沒有選擇的物體 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【2】
全部解除鎖定 【Ctrl】+【Alt】+【2】
隱藏所選物體 【Ctrl】+【3】
隱藏沒有選擇的物體 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【3】
顯示所有已隱藏的物體 【Ctrl】+【Alt】+【3】
聯接斷開的路徑 【Ctrl】+【J】
對齊路徑點 【Ctrl】+【Alt】+【J】
調合兩個物體 【Ctrl】+【Alt】+【B】
取消調合 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【B】
調合選項 選【W】後按【回車】
新建一個圖像遮罩 【Ctrl】+【7】
取消圖像遮罩 【Ctrl】+【Alt】+【7】
聯合路徑 【Ctrl】+【8】
取消聯合 【Ctrl】+【Alt】+【8】
圖表類型 選【J】後按【回車】
再次應用最後一次使用的濾鏡 【Ctrl】+【E】
應用最後使用的濾鏡並調節參數 【Ctrl】+【Alt】+【E】

文字處理

文字左對齊或頂對齊 【Ctrl】+【Shift】+【L】
文字中對齊 【Ctrl】+【Shift】+【C】
文字右對齊或底對齊 【Ctrl】+【Shift】+【R】
文字分散對齊 【Ctrl】+【Shift】+【J】
插入一個軟回車 【Shift】+【回車】
精確輸入字距調整值 【Ctrl】+【Alt】+【K】
將字距設置為0 【Ctrl】+【Shift】+【Q】
將字體寬高比還原為1比1 【Ctrl】+【Shift】+【X】
左／右選擇 1 個字元 【Shift】+【←】/【→】
下／上選擇 1 行 【Shift】+【↑】/【↓】
選擇所有字元 【Ctrl】+【A】
選擇從插入點到滑鼠點按點的字元 【Shift】加點按
左／右移動 1 個字元 【←】/【→】
下／上移動 1 行 【↑】/【↓】
左／右移動1個字 【Ctrl】+【←】/【→】
將所選文本的文字大小減小2 點象素 【Ctrl】+【Shift】+【<】
將所選文本的文字大小增大2 點象素 【Ctrl】+【Shift】+【>】
將所選文本的文字大小減小10 點象素 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【<】
將所選文本的文字大小增大10 點象素 【Ctrl】+【Alt】+【Shift】+【>】
將行距減小2點象素 【Alt】+【↓】
將行距增大2點象素 【Alt】+【↑】
將基線位移減小2點象素 【Shift】+【Alt】+【↓】
將基線位移增加2點象素 【Shift】+【Alt】+【↑】
將字距微調或字距調整減小20/1000ems 【Alt】+【←】
將字距微調或字距調整增加20/1000ems 【Alt】+【→】
將字距微調或字距調整減小100/1000ems 【Ctrl】+【Alt】+【←】
將字距微調或字距調整增加100/1000ems 【Ctrl】+【Alt】+【→】
游標移到最前面 【HOME】
游標移到最後面 【END】
選擇到最前面 【Shift】+【HOME】
選擇到最後面 【Shift】+【END】
將文字轉換成路徑 【Ctrl】+【Shift】+【O】

視圖操作

將圖像顯示為邊框模式(切換) 【Ctrl】+【Y】
對所選對象生成預覽(在邊框模式中) 【Ctrl】+【Shift】+【Y】
放大視圖 【Ctrl】+【+】
縮小視圖 【Ctrl】+【-】
放大到頁面大小 【Ctrl】+【0】
實際象素顯示 【Ctrl】+【1】
顯示/隱藏所路徑的控制點 【Ctrl】+【H】
隱藏模板 【Ctrl】+【Shift】+【W】
顯示/隱藏標尺 【Ctrl】+【R】
顯示/隱藏參考線 【Ctrl】+【;】
鎖定/解鎖參考線 【Ctrl】+【Alt】+【;】
將所選對象變成參考線 【Ctrl】+【5】
將變成參考線的物體還原 【Ctrl】+【Alt】+【5】
貼緊參考線 【Ctrl】+【Shift】+【;】
顯示/隱藏網格 【Ctrl】+【」】
貼緊網格 【Ctrl】+【Shift】+【」】
捕捉到點 【Ctrl】+【Alt】+【」】
應用敏捷參照 【Ctrl】+【U】
顯示/隱藏「字體」面板 【Ctrl】+【T】
顯示/隱藏「段落」面板 【Ctrl】+【M】
顯示/隱藏「製表」面板 【Ctrl】+【Shift】+【T】
顯示/隱藏「畫筆」面板 【F5】
顯示/隱藏「顏色」面板 【F6】/【Ctrl】+【I】
顯示/隱藏「圖層」面板 【F7】
顯示/隱藏「信息」面板 【F8】
顯示/隱藏「漸變」面板 【F9】
顯示/隱藏「描邊」面板 【F10】
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選擇最後一次使用過的面板 【Ctrl】+【~】
pscs4快捷鍵
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命令 快捷鍵

文件
新建... Ctrl+N
打開... Ctrl+O
在 Bridge 中瀏覽... Alt+Ctrl+O
Shift+Ctrl+O
打開為... Alt+Shift+Ctrl+O
打開為智能對象...
最近打開文件>
清除最近
共享我的屏幕...
Device Central...
關閉 Ctrl+W
關閉全部 Alt+Ctrl+W
關閉並轉到 Bridge... Shift+Ctrl+W
存儲 Ctrl+S
存儲為... Shift+Ctrl+S
Alt+Ctrl+S
登記...
存儲為 Web 和設備所用格式... Alt+Shift+Ctrl+S
恢復 F12
置入...
導入>
變數數據組...
視頻幀到圖層...
注釋...
Vimicro USB PC Camera (ZC0301PL)...
WIA-Vimicro USB PC Camera (ZC0301...
WIA 支持...
導出>
數據組作為文件...
Zoomify...
將視頻預覽發送到設備
路徑到 Illustrator...
視頻預覽
渲染視頻...
自動>
批處理...
創建快捷批處理...
裁剪並修齊照片
Photomerge...
合並到 HDR...
條件模式更改...
限制圖像...
腳本>
圖像處理器...
拼合所有蒙版
拼合所有圖層效果
圖層復合導出到 WPG...
圖層復合導出到文件...
將圖層導出到文件...
腳本事件管理器...
將文件載入堆棧...
統計...
載入多個 DICOM 文件...
瀏覽...
文件簡介... Alt+Shift+Ctrl+I
頁面設置... Shift+Ctrl+P
列印... Ctrl+P
列印一份 Alt+Shift+Ctrl+P
退出 Ctrl+Q
編輯
還原/重做 Ctrl+Z
前進一步 Shift+Ctrl+Z
後退一步 Alt+Ctrl+Z
漸隱... Shift+Ctrl+F
剪切 Ctrl+X
F2
拷貝 Ctrl+C
F3
合並拷貝 Shift+Ctrl+C
粘貼 Ctrl+V
F4
貼入 Shift+Ctrl+V
清除
拼寫檢查...
查找和替換文本...
填充... Shift+F5
描邊...
內容識別比例 Alt+Shift+Ctrl+C
自由變換 Ctrl+T
變換>
再次 Shift+Ctrl+T
縮放
旋轉
斜切
扭曲
透視
變形
旋轉 180 度
旋轉 90 度(順時針)
旋轉 90 度(逆時針)
水平翻轉
垂直翻轉
自動對齊圖層...
自動混合圖層...
定義畫筆預設...
定義圖案...
定義自定形狀...
清理>
還原
剪貼板
歷史記錄
全部
Adobe PDF 預設...
預設管理器...
顏色設置... Shift+Ctrl+K
指定配置文件...
轉換為配置文件...
鍵盤快捷鍵... Alt+Shift+Ctrl+K
菜單... Alt+Shift+Ctrl+M
首選項>
常規... Ctrl+K
界面...
文件處理...
性能...
游標...
透明度與色域...
單位與標尺...
參考線、網格和切片...
增效工具...
文字...
Camera Raw...
圖像
模式>
點陣圖
灰度
雙色調
索引顏色
RGB 顏色
CMYK 顏色
Lab 顏色
多通道
8 位/通道
16 位/通道
32 位/通道
顏色表...
調整>
亮度/對比度...
色階... Ctrl+L
曲線... Ctrl+M
曝光度...
自然飽和度...
色相/飽和度... Ctrl+U
色彩平衡... Ctrl+B
黑白... Alt+Shift+Ctrl+B
照片濾鏡...
通道混合器...
反相 Ctrl+I
色調分離...
閾值...
漸變映射...
可選顏色...
陰影/高光...
變化...
去色 Shift+Ctrl+U
匹配顏色...
替換顏色...
色調均化
自動色調 Shift+Ctrl+L
自動對比度 Alt+Shift+Ctrl+L
自動顏色 Shift+Ctrl+B
圖像大小... Alt+Ctrl+I
畫布大小... Alt+Ctrl+C
圖像旋轉>
180 度
90 度(順時針)
90 度(逆時針)
任意角度...
水平翻轉畫布
垂直翻轉畫布
裁剪
裁切...
顯示全部
復制...
應用圖像...
計算...
變數>
定義...
數據組...
應用數據組...
陷印...
圖層
新建>
圖層... Shift+Ctrl+N
背景
組...
從圖層建立組...
通過拷貝的圖層 Ctrl+J
通過剪切的圖層 Shift+Ctrl+J
復制圖層（組）...
刪除>
刪除圖層（組）
隱藏圖層
圖層（組）屬性
圖層樣式>
混合選項...
投影...
內陰影...
外發光...
內發光...
斜面和浮雕...
光澤...
顏色疊加...
漸變疊加...
圖案疊加...
描邊...
拷貝圖層樣式
粘貼圖層樣式
清除圖層樣式
全局光...
創建圖層
顯示/隱藏所有效果
縮放效果...
智能濾鏡>
停用智能濾鏡
刪除濾鏡蒙版
停用濾鏡蒙版
清除智能濾鏡
新建填充圖層>
純色...
漸變...
圖案...
新建調整圖層>
亮度/對比度...
色階...
曲線...
曝光度...
自然飽和度...
色相/飽和度...
色彩平衡...
黑白...
照片濾鏡...
通道混合器...
反相...
色調分離...
閾值...
漸變映射...
可選顏色...
圖層內容選項...
圖層蒙版>
顯示全部
隱藏全部
顯示選區
隱藏選區
刪除
應用
啟用/禁用圖層蒙版
鏈接/取消鏈接圖層蒙版
矢量蒙版>
顯示全部
隱藏全部
當前路徑
刪除
啟用/禁用矢量蒙版
鏈接/取消鏈接矢量蒙版
創建/釋放剪貼蒙版 Alt+Ctrl+G
智能對象>
轉換為智能對象
通過拷貝新建智能對象
編輯內容
導出內容...
替換內容...
堆棧模式>
無
標准偏差
范圍
方差
峰度
偏度
平均值
熵
中間值
總和
最大值
最小值
柵格化
視頻圖層>
從文件新建視頻圖層...
新建空白視頻圖層
插入空白幀
復制幀
刪除幀
替換素材...
解釋素材...
顯示已改變的視頻
恢復幀
恢復所有幀
重新載入幀
柵格化
文字>
創建工作路徑
轉換為形狀
水平
垂直
消除鋸齒方式為無
消除鋸齒方式為銳利
消除鋸齒方式為犀利
消除鋸齒方式為渾厚
消除鋸齒方式為平滑
轉換文本形狀類型
文字變形...
更新所有文字圖層
替換所有缺欠字體
柵格化>
文字
形狀
填充內容
矢量蒙版
智能對象
視頻
3D
圖層
所有圖層
新建基於圖層的切片
圖層編組 Ctrl+G
取消圖層編組 Shift+Ctrl+G
隱藏圖層
排列>
置為頂層 Shift+Ctrl+]
前移一層 Ctrl+]
後移一層 Ctrl+[
置為底層 Shift+Ctrl+[
反向
對齊>
頂邊
垂直居中
底邊
左邊
水平居中
右邊
分布>
頂邊
垂直居中
底邊
左邊
水平居中
右邊
鎖定所有圖層
鏈接/取消鏈接圖層
選擇鏈接圖層
合並圖層 Ctrl+E
合並可見圖層 Shift+Ctrl+E
拼合圖像
修邊>
去邊...
移去黑色雜邊
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