貴金屬分析儀使用說明

Ⅰ 貴金屬分析儀是怎樣的能測試的嗎

你說的是重金屬分析儀吧，你可以看一下這個重金屬快速檢測分析儀

產品原理：

重金屬快速檢測分析儀檢測原理是基於被測樣品中有害物質或營養成分與顯色劑反應生成有色化合物對可見光有選擇性吸收而建立的比色分析法。儀器由LED光源、比色池、集成光電感測器、微處理器和微型列印機構成，可直接在液晶屏幕上顯示出被測樣品中有害物質的含量，並列印出分析結果。

功能特點：
*採用國家最新頒布的標准方法，檢測時間5-30分鍾
*適用於實驗室或現場液體樣品和固體樣品的定量測定
*大屏幕液晶中文顯示，單片機智能控制，人機互動式操作，具有測量、設置、
記錄、保存和數據統計處理功能
*利用冷光、單色光作光源，光學穩定性極佳，不會受到各種光的干擾
*光源壽命長達10萬小時
*智能快捷鍵可自動切換光路
*內存100條標准曲線可自行修定並保存
*內存回歸擬和曲線，可自動計算並保存。無須手動製作曲線
*可精確存儲3萬個測定數據（包括測定時間、參數、數值)
*列印當前數據和所有存儲歷史數據(微型列印機選裝)

技術指標：
•光源:超高亮發光二極體
•波長精度:±2nm
•光度范圍:0.000～2.000Abs
•穩定性:0.005Abs/h
•曲線數量:99條
•存儲數據:3萬個
•檢測測器:集成光電感測器
•樣品室:比色皿（池）
•鍵盤:輕觸式中英文鍵盤
•顯示:大屏幕LCD
•使用環境:5～40℃
•測量精度:±5％
•響應時間:0.3s

Ⅱ 貴金屬光譜分析儀價格多少

在10-25萬左右
貴金屬分析儀是分析貴金屬成分組成的精密儀器，常用的有化學有損分析儀器和物理無損分析儀器。鑒於貴金屬本身價格昂貴，不能輕易破壞其外形，故化學有損檢測儀在珠寶行業不被經常使用。
光譜貴金屬分析儀享有無損、快速、精確等特點，被廣泛用於首飾生產、加工、銷售、質檢等部門。隨著貴金屬行業的蓬勃發展，貴金屬的業務日益增加，給貴金屬行業帶來效益的同時我們對產品的工藝，含量的控制越來越需要高效和准確。近年來由於加工工藝不斷提高，各種貴金屬在市場上流通的越來越多。
主要特點
無損檢測：被測金屬無論外觀、內在質量還是重量都不受任何損害
測量范圍寬：各類黃金、白金及其他貴金屬合金都可測量
測量速度快：根據測量要求，在幾秒到幾分鍾內可以得出測量結果
測量進度高：測量誤差是±0.1%
提供譜線重疊比較工具，便於用戶查明未知元素譜峰
提供密度法復核軟體，可對本機測定結果進行復核
貴金屬分析儀的種類和適用范圍分別如下：
1）台式：台式驗金機一般體積大，重量重，需要外接台式電腦，儀器穩定性好，重顯性高。主要適用於 首飾加工廠
2）攜帶型：體積較小，重量輕，便於攜帶，需要外接筆記本電腦，一般是手提，亦稱手提式驗金機。常用於收金個體戶。
3）手持式：體積最小，重量最輕，不需要外接電腦，儀器內置數據顯示系統，方便隨身檢測。大型加重廠常用到。

Ⅲ 如何正確使用手持式光譜儀（手持式合金分析儀）

浪聲手持式光譜儀生產廠家以專業的角度告訴大家如何使用這款光譜儀器。
手持式光譜儀在使用的時候，對於環境是有一定的要求，不要在潮濕的環境下工作的，環境濕度0-95%之間為最好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場的干擾，如此儀器分析的時候才能檢測出更精確的精度。所以，大家在工作的時候要注意環境的適合度，很多時候儀器檢測不標准跟環境還是有很大程度上的關系。
一、手持式光譜儀對於操作人員也是要一定要求的，測試樣品前一定要請儀器廠商的技術人員現場演示，並且對技術人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那麼一定會要做放樣檢測，這對人體來說是有一定的為還在用，所以，技術人員還需要做好防輻射。
二、對儀器操作的技術人員在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對准需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動扳機開始檢測的時候，技術人員的手一定不能抖動或偏動，否則會影響到檢測的數據結果。
三、對於檢測的樣品也要一些小要求，被測的物品表面必須光滑、整潔，如此才能避免其他元素的干擾被測物品的表面是有油污，或重金屬污染，如此檢測出來的結果精確度就沒那麼高，如何儀器都不是萬能的。
其實，手持式光譜儀的操作看起來很復雜，但是按照技術人員的指示一步步去操作，就沒你想的那麼復雜了。

Ⅳ 熔點儀的操作步驟及使用方法

熔點儀的操作步驟及使用方法：

進入正式測試前，必須進行使用前的准備工作。

1、硅油的灌入   

用注射器（附件）吸取硅油（附件）10ml從溢出口注入，重復6次，共需注入60ml硅油，然後將溢油瓶套在溢出口上（如長期測量熔點低於90℃時，可用蒸餾水代替硅油）。   

2、油浴管的更換   

首先取下溢油瓶，然後卸下側板；用手伸進儀器箱體內，一手托住油浴管，一手拉下彈簧，然後豎直向下再水平取出油浴管，取出油浴管時，須小心謹慎，以免玻璃破損。   

把油管裝入儀器內，按上述方法相反次序進行。

熔點測定

1、通過起始溫度拔盤輸入所需要的起始溫度，設置的起始溫度應低於待測物質的熔點（不大於280℃）。

2、開啟電源形狀，通過觀察窗可以看到照明燈亮，硅油被電機攪拌，說明儀器已處於接通狀態，同時顯示屏會顯示出當前的油浴溫度，此後儀器自動達到預置設定溫度並自動平衡，若要修改預置溫度，則重新輸入所需的預置溫度，按一下「置入」鍵即可。   

3、儀器預熱20分鍾，將裝有待測物質的毛細管從插入口中內的小孔中置入到油浴管中（插入及取出毛細管進必須小心謹慎，切勿折曲）。   

4、根據需要選擇升溫速率，按下相應的鍵，左上方即有光亮指示，說明儀器已進入線性升溫工作狀態，四檔線性升溫速率鍵可隨時變換，對於未知熔點值的樣品可先用快速升溫得到初步熔點范圍後而精測。   

5、通過觀察窗觀毛細管內的樣品的熔化過程，出現初熔時，按下「按熔」鍵，初熔存貯指示燈亮，說明初熔已被貯存。出現終熔時，按下終熔鍵，顯示屏上的數字被保持不動，這個數值就是終熔值。

說明：如果發生誤動，則無法修改初、終熔讀數，只好重新測量。   

6、若要讀出初熔，按一下初熔讀出鍵，顯示屏上數字就是初熔值，但幾秒後，顯示屏上的數字又轉換到終熔值。這樣一直可以重復讀出。   

7、謹慎取出測量完畢的毛細管。

8、如果要重復測同種樣品，那麼按一下「置入」鍵，儀器自動進入起始溫度設定，等平衡後重復3－7的步驟即可。   

9、如果要測其它物質的熔點，可通過起始溫度拔盤重新輸入新的起始溫度，然後按一下「置入」鍵重復3－7的步驟即可。   

10、一般推薦用戶先測量低熔點物質，後測高熔點物質。  

11、如果儀器使用過程中有什麼問題,可及時和成都雅源科技技術部工程師聯系,以免影響你的實驗操作。

Ⅳ 跪求 鋼材成分分析儀（光譜）的使用說明

光譜儀是指利用折射或衍射產生色散的一類光譜測量儀器。光柵光譜儀是光譜測量中最常用的儀器，基本結構如圖1所示。它由入射狹縫S1、準直球面反射鏡M1、光柵G、聚焦球面反射鏡M2以及輸出狹縫S2構成。

衍射光柵是光柵光譜儀的核心色散器件。它是在一塊平整的玻璃或金屬材料表面（可以是平面或凹面）刻畫出一系列平行、等距的刻線，然後在整個表面鍍上高反射的金屬膜或介質膜，就構成一塊反射試驗射光柵。相鄰刻線的間距d稱為光柵常數，通常刻線密度為每毫米數百至數十萬條，刻線方向與光譜儀狹縫平行。入射光經光柵衍射後，相鄰刻線產生的光程差 ， 為入射角， 為衍射角，則可導出光柵方程：

光柵方程將某波長的衍射角和入射角通過光柵常數d聯系起來， 為入射光波長，m為衍射級次，取 等整數。式中的「 」號選取規則為：入射角和衍射角在光柵法線的同側時取正號，在法線兩側時取負號。如果入射光為正入射 ，光柵方程變為 。衍射角度隨波長的變化關系，稱為光柵的角色散特性，當入射角給定時，可以由光柵方程導出

，

復色入射光進入狹縫S1後，經M2變成復色平行光照射到光柵G上，經光柵色散後，形成不同波長的平行光束並以不同的衍射角度出射，M2將照射到它上面的某一波長的光聚焦在出射狹縫S2上，再由S2後面的電光探測器記錄該波長的光強度。光柵G安裝在一個轉台上，當光柵旋轉時，就將不同波長的光信號依次聚焦到出射狹縫上，光電探測器記錄不同光柵旋轉角度（不同的角度代表不同的波長）時的輸出光信號強度，即記錄了光譜。這種光譜儀通過輸出狹縫選擇特定的波長進行記錄，稱為光柵單色儀。

在使用單色儀時，對波長進行掃描是通過旋轉光柵來實現的。通過光柵方程可以給出出射波長和光柵角度之間的關系（如圖2所示）

，

圖2 光柵轉動系統示意圖

2ψ

轉台

衍射光

入射光

光柵

其中， 為光柵的旋轉角度， 為入射角和衍射角之和的一半，對給定的單色儀來說 為一常數。

光譜儀是指利用折射或衍射產生色散的一類光譜測量儀器。光柵光譜儀是光譜測量中最常用的儀器，基本結構如圖1所示。它由入射狹縫S1、準直球面反射鏡M1、光柵G、聚焦球面反射鏡M2以及輸出狹縫S2構成。

一、光學系統

光譜儀光學系統，如圖1所示：M1准光鏡、M2物鏡、M3轉鏡、G平面衍射光柵、S1入射狹縫、通過旋轉M3選擇出射狹縫S2或S3從而選擇接收器件類型，出射狹縫為S2則為光電倍增管或硫化鉛、鉭酸鋰、TGS等接收器件；出射狹縫為S3則為CCD接受器件。入射狹縫、出射狹縫均為直狹縫，寬度范圍0~2mm連續可調，光源發出的光束進入入射狹縫S1，S1位於反射式准光鏡M2的焦面上，通過S1射入的光束經M2反射成平行光束投向平面光柵G上，衍射後的平行光束經物鏡M2成像在S2上，或經物鏡M2和M3平面成像在S3上。

光源系統為儀器提供工作光源，可選氘燈、鎢燈、鈉燈、汞燈等各種光源。

二、電子系統

電子系統由電源系統、接收系統、信號放大系統、A/D轉換系統和光源系統等部分組成。

電源系統為儀器提供所需的工作電壓；接受系統將光信號轉換成電信號；信號放大器系統包括前置放大器和放大器兩個部分；A/D轉換系統將模擬信號轉換成數字信號，以便計算機進行處理。

三、軟體系統

WDS系列多功能光柵光譜儀的控制和光譜數據處理操作均由計算機來完成。

軟體系統主要功能有：儀器系統復位、光譜掃描、各種動作控制、測量參數設置、光譜採集、光譜數據文件管理、光譜數據的計算等。

WDS系列多功能光柵光譜儀器系統操作軟體根據型號不同和接收儀器不的同配有PMT操作系統和CCD操作系統。每一系統均可採用快捷鍵和下拉菜單來進行儀器操作，下面分別進行說明。

3.1PMT操作系統

3.1.1 開機與系統復位

確認光柵光譜儀已經正確連接並打開電源。

在WONDOWS操作系統中，從「開始」——「程序」——「WDS系列光柵光譜儀」中執行相應的PMT可執行程序，或雙擊桌面上的快捷方式，啟動系統操作程序。

在系統初始化過程後應有波長復位正確的提示，然後按「確定」進入系統操作主界面。

3.1.2菜單欄的使用

系統菜單欄包括文件、測量方式、數據處理、系統操作和幫助五項內容。

3.1.2.1文件

文件菜單中包括新建、打開、存檔、參數設置、列印和退出系統等項。其中，新建，即清除當前圖譜文件並重新建立一個圖譜文件。

打開，即打開已存圖譜文件，可根據系統提示選擇文件所在路徑。

存檔，即保存當前圖譜文件，可根據系統提示選擇文件保存路徑。

參數設置，即根據測量需對系統參數進行相應的參數設置。

在測量模式一欄中，可選擇能量或透過率測量，並在系統允許的范圍內，對起始刻度和終止刻度進行設置。能量（0~4095），透過率（0~100）。

在掃描速度一欄中，可對掃描記錄數據的速度進行相應的設置，當樣品未知時，一般可選擇快速或中速，對於不同的儀器型號會稍有所不同。

在掃描方式一欄中，可選擇測量為連續方式或重復方式，或在當前波長對時間進行記錄。

在波長范圍一欄中，可根據需要在系統允許的波長范圍內對其進行相應的設置。系統允許的波長范圍根據儀器型號的不同有所不同。

在光譜帶寬一欄中，系統設置為手動，即根據測量需要對出射、入射狹縫寬度進行相應的設置。

系統默認增益為1，若信號較弱，可適當選擇增益（1~4）。

列印，即根據提示對話框，列印當前圖譜。

退出系統，當結束系統測量，選擇此項，根據提示退出光柵光譜儀操作系統。

3.1.2.2 測量方式

測量方式菜單中包括光譜掃描、基線掃描和時間掃描等項。其中，

光譜掃描，即根據當前參數設置對當前光譜進行記錄。

基線掃描，當選擇了透過率測量方式時，在光譜掃描之前首先要對系統進行基線掃描以記錄系統當前狀態，在進行基線掃描時，狀態欄顯示值一般應在0~4095之間。

時間掃描，即在當前參數設置情況下，對當前波長進行時間記錄。

3.1.2.3 數據處理

在數據處理菜單中包括刻度擴展、局部放大、峰值檢索、峰值顯示、讀取數據、光譜平滑、光譜微分和光譜運算等項。其中，

刻度擴展，指對當前橫、縱坐標的起始、終止刻度在系統允許的范圍內進行相應的放大或縮小。點擊此項功能將彈出如圖6所示對話框。

局部放大，指對當前圖譜文件進行部分放大。

峰值檢索，指讀當前圖譜文件中一定范圍內的峰值進行檢索並將結果顯示出來。點擊此項彈出如圖7所示對話框，提示輸入峰值高度，輸入峰值高度後，點擊確定即可。

讀取數據，即讀取當前圖譜的橫、縱坐標數據，可選擇列表方式或游標讀取方式。

光譜平滑，點擊此項系統將對當前圖譜文件進行平滑處理，以去掉雜訊或過小的峰值，來方便圖譜的讀取或辨別。

光譜微分，點擊此項功能可對當前圖譜進行一至四次微分。

光譜運算，點擊此項系統彈出提示對話框，提示選擇當前圖譜與任意常數的加、減、乘、除四則運算。

3.1.2.4 系統操作

系統操作菜單中主要包括波長檢索、波長校正、系統復位和系統設置等項。其中，

波長檢索，點擊此項系統彈出如圖8所示波長檢索對話框，提示輸入目的波長，波長范圍為系統允許波長范圍內的任意波長值。

波長線性校正，當對光柵光譜議儀器系統檢測發現系統波長值與准確波長不對應時，可通過此項對系統波長進行校正，在對話框中輸入系統值與實際波長值的差值，點擊確定即可。

系統復位，當儀器在運行過程中發現有不正常現象出現時，可點擊此項對系統進行重新復位，以消除影響。

系統設置，即系統調試時用到的一些數據，用戶不可更改。

3.1.2.5 幫助

幫助菜單中提供了廠商及儀器版本信息。

3.1.3 工具欄的使用

工具欄中主要包括新建、打開、保存、列印、光譜掃描、參數設置、波長檢索、讀取數據、峰值檢索、刻度擴展、屏幕刷新和停止等項。其中，

新建、打開、保存、列印、和參數設置等項包含於菜單欄的「文件」菜單中；光譜掃描包含於菜單欄的「測量方式」菜單中；波長檢索包含於菜單欄中的「系統操作」菜單中；讀取數據、峰值檢索和刻度擴展包含於菜單欄中的「數據處理」菜單中。

屏幕刷新，即刷新當前圖譜屏幕顯示以清除數據標注的字元。

停止，點擊此項，系統將停止當前操作。

3.1.4 退出系統與關機

當系統測試結束後，將出射、入射狹縫調節至0.1mm左右，若有負高壓系統，則將負高壓調節至零。點擊菜單欄中「文件\退出系統」，按照提示關閉電源退出儀器操作系統。

3.2 CCD操作系統

3.2.1 開機於系統復位

確認光柵光譜儀已經正確連接並打開電源。

在WINDOWS操作系統中，從「開始」——「程序」——「WDS系列光柵光譜儀」中執行相應的CCD可執行程序，或雙擊桌面上的快捷方式，啟動系統操作程序。

在系統初始化過程後應有波長復位正確的提示，然後按「確定」進入系統操作主界面。

3.2.2 菜單欄中使用

系統菜單欄中包括文件、採集、數據處理、系統操作和幫助五項內容。下面分別進行介紹。

3.2.2.1 文件

文件菜單中包括新建、打開、存檔、測量參數、列印和退出系統等項。其中，

新建，即清除當前圖譜文件並重新建立一個圖譜文件。

打開，即打開已存圖譜文件，可根據系統提示選擇文件所在路徑。

存檔，即保存當前圖譜文件，可根據系統提示選擇文件保存路徑。

測量參數，即根據測量需對系統參數進行相應的設置，通常情況下採取默認值即可。

列印，即根據提示對話框，列印當前圖譜。

退出系統，當結束系統測量，選擇此項，根據提示退出光柵光譜儀操作系統。

3.2.2.2 採集

採集菜單中包括一次採集、連續採集和門值設置等項。其中，

一次採集，即在當前中心波長對當前光譜進行一次性記錄。

連續採集，即在當前中心波長對當前光譜進行連續性記錄，時時刷新。

門值設置，系統默認門值設置為-1，當要去除較小的峰值時，可通過設置門值來進行限制。

3.2.2.3 數據數理

數據處理菜單中包括讀取數據、光譜平滑、峰值檢索、刻度擴展、顯示光譜參數、像元波長轉換和譜線運算等項。其中，

讀取數據，即讀取當前圖譜的橫、縱坐標數據，可選擇列表方式或游標讀取方式。

光譜平滑，點擊此項系統將對當前圖譜文件進行平滑處理，以去掉雜訊火過小的峰值，來方便圖譜的讀取或辨別。

峰值檢索，指讀當前圖譜文件中一定范圍內的峰值進行檢索並將結果顯示出來。點擊此項彈出對話框，提示輸入峰值高度，輸入峰值高度後，點擊確定即可。

刻度擴展，指對當前橫、縱坐標的起始、終止刻度在系統允許的范圍內進行相應的放大或縮小。點擊此項功能將彈出對話框。

顯示光譜參數，即顯示當前光譜的測量參數。

像元波長轉換，即選擇將系統操作界面的橫坐標用像元或波長的方式顯示。

譜線運算，即對當前光譜的與常數加、減、乘、除四則運算。

3.2.2.4 系統操作

系統操作菜單中主要包括檢索儀器中心波長、檢索譜線中心波長、零點波長校正、系統參數設置和系統復位等項。其中，

檢索儀器中心波長，即將操作系統界面顯示的中心波長檢索至目的波長處。

檢索譜線中心波長，即若當前顯示的圖譜文件中心波長非儀器當前中心波長時，用此項功能將儀器中心波長檢索值譜線中心波長。

零點波長校正，當對光柵光譜儀器系統檢測發現系統波長值與准確波長不對應時，可通過此項對系統波長進行校正，在對話框中輸入系統值與實際波長值的差值，點擊確定即可。

系統參數設置，即系統調試時用到的一些數據，用戶不可更改。

系統復位，當儀器在運行過程中發現有不正常現象出現時，可點擊此項對系統進行重新復位，以消除影響。

3.2.3 工具欄的使用

工具欄中主要包括新建、打開、保存、列印、波長檢索、參數設置、讀取數據、峰值檢索、刻度擴展、放大、縮小和屏幕刷新等項。其中，

新建、打開、保存、列印和參數設置等項包含於菜單欄的「文件」菜單中；波長檢索包含於菜單欄中的「系統操作」菜單中；讀取數據、峰值檢索和刻度擴展包含於菜單欄中的「數據處理」菜單中；一次採集和連續採集包含於「採集」菜單中。

屏幕刷新，即刷新當前圖譜屏幕顯示以清除數據標注的字元。

停止，點擊此項，系統將停止當前操作。

3.2.4 退出系統與關機

當系統測試結束後，將入射狹縫調節至0.1mm左右，點擊菜單欄中「文件\退出系統」，按照提示關閉電源退出儀器操作系統。

四、實驗內容和步驟：

1、開機之前，請認真檢查光柵光譜儀的各個部分（單色儀主機、電控箱、接受單元、計算機、）連線是否正確，保證准確無誤。

為了保證儀器的性能指標和壽命，在每次使用完畢，將入射狹縫寬度、出射狹縫寬度分別調節到0.1mm左右。

在儀器系統復位完畢後，根據測試和實驗的要求分別調節入射狹縫寬度、出射狹縫寬度到合適的寬度。

2、接收單元

WDS系列多功能光柵光譜儀根據儀器型號的不同配有光電倍增管、CCD、硫化鉛、鉭酸鋰、TGS等不同接收單元。

注意，若採用光電倍增管作為接收單元，不一定要在光電倍增管加有負高壓的情況下，使其暴露在強光下（包括自然光）。在使用結束後，一定要注意調節負高壓旋鈕使負高壓歸零，然後再關閉電控箱。

3、狹縫調節

儀器的入射狹縫和出射狹縫均為直狹縫，寬度范圍0~2mm連續可調，順時針旋轉為狹縫寬度加大，反之減小。每旋轉一周狹縫寬度變化0.5mm，最大調節寬度為2mm。為延長使用壽命，狹縫寬度調節時應注意最大不要超過2mm。儀器測量完畢或平常不使用時，狹縫最好調節到0.1mm05mm左右。

4、電控箱的使用

電控箱包括電源、信號放大、控制系統和光源系統（氘燈和鎢燈可選件，不包括在光譜儀器的標准配置中）。在運行儀器操作軟體前一定要確認所有的連接線正確連接且已經打開電控箱的開關。

5、程序安裝（如已安裝好，則跳過）

儀器的參數設置和測量均由計算機來完成。因此在使用前必須先安裝WDS系列多功能光柵光譜儀器中文操作軟體。

將隨儀器配備的WDS系列多功能光柵光譜儀器操作軟體系統安裝光碟放入光碟機中，執行其中的SETUP程序，即開始進行安裝，安裝過程大約一分鍾。

系統安裝結束後，將自動在WINDOWS系統的「開始」—「程序」中建立「WDS系列光柵光譜儀」一項。執行其中的可執行程序即可運行操作系統。

6、採用標准光譜燈進行波長校準

光柵光譜儀由於運輸過程中震動等各種原因，可能會使波長准確度產生偏差，因此在第一次使用前用已知的光譜線來校準儀器的波長准確度。在平常使用中，也應定期檢查儀器的波長准確度。

檢查儀器波長准確度可用氘燈、鈉燈（標准值為589.0nm和589.6nm）、汞燈以及其它已知光譜線的來源來進行。

6.1 用氘燈譜線校準

利用氘燈的兩根譜線的波長值（標准值為486.0nm和656.0nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描氘燈光譜。如果波長有偏差，用「零點波長校正」功能進行校正。

6.2 用鈉燈譜線校準

利用鈉燈的兩根譜線的波長值（標准值為589.0nm和589.6nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描鈉燈光譜。如果波長有偏差，用「零點波長校正」功能進行校正。

6.3 用汞燈譜線校準

利用汞燈的五根譜線的波長值（標准值為404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm、579.0nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描汞燈光譜。如果波長有偏差，用「波長線性校正」功能進行校正。

7、分別掃描不同光源的光譜

調節光源，使其在單色義的波長范圍內有最大的輸出。根據測量對系統參數進行相應的設置。根據測量學要對出射、入射狹縫寬度進行相應的設置。按「3 軟體系統」進行操作。
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Ⅵ 哪裡可以學習金相分析儀的使用

金相分析儀已廣泛應用於電力、冶金、石化、機械、熱處理和鑄造、鍛造等行業。

基本配置：

1.顯微鏡與攝像頭介面；

2.數字攝像頭；

3.全套軟體系統

4.國產倒置金相顯微鏡：1250倍

金相系統軟體：

一.技術特點

*32位中文WINDOWS操作環境

軟體採用中文菜單，標准WINDOWS界面，適用於中文WINDOWS95、98/NT等當前主流PC操作系統，特別考慮了材料工作者的使用習慣，即使沒有計算機及數字圖象學的專門知識，也可在幾天內使用自如。

*實時採集、存儲、處理、列印金相圖象

二.圖象採集

系統以每秒30幀的速度實時採集圖象，圖象同步顯示在監視器上，便於測量分析，減輕目鏡觀察的疲勞，更便於多人同時觀察分析。圖象解析度768X576，最大灰度級256。

1.激活圖象：顯微圖象實時顯示在計算機屏幕上，調整載物台，選擇最佳視場，調整顯微鏡焦距，使圖象清晰。此時圖象處於活動狀態，即每秒顯示25幅圖象。

2.採集圖象：將當前顯微圖象採集到內存中，圖象不再實時顯示在計算機屏幕上。此時圖象處於凍結狀態，可以進行處理。

3.保存圖象：在文件對話框中選擇合適的路徑，輸入正確的文件名，則將當前顯微圖象以256色BMP點陣圖格式保存到磁碟中存檔。

4.打開圖象：在文件對話框中選擇要打開的文件，則將磁碟中圖象調出以便處理。

5.列印圖象：接通列印機，也可通過視頻拷貝機瞬間列印相片級的圖片（選配），圖片亮度、對比度、尺寸大小均可調整,免去暗室之苦。

三.圖象處理

*名詞解釋

1.顯微圖象：將顯微鏡中觀察到的試樣光學金相圖象通過攝像機、圖象處理器的採集、數字化、量化而得到的數字圖象。實際上是一個關於位置坐標的二次灰度函數。

2.灰 度：象點的明暗程度，最亮（白）為255，最暗（黑）為0

3.灰 度 級：象點的明暗程度級別數，本系統分為256級

4.圖象處理：通過特定的數字模型計算，改善圖象的質量

5.圖象識別：提取圖象中的某些特徵，並根據這些特徵區分不同的目標

6.圖象增強：改善圖象視覺效果

7.圖象濾波：去除圖象上的雜質，突出某些細節特徵

8.圖象分割：將圖象分成有意義的目標區域

*圖象增強

1.亮度對比度調整：在對話框中移動滾動條或直接輸入一個從-50-50之間的數字，正數加大亮度對比度，負數減小亮度對比度。

2.灰度線性變換：改變灰度曲線的形狀以改變輸入輸出灰度范圍。如果輸入灰度范圍窄而輸出范圍寬，可以起到增大亮度對比度的作用；如果輸入灰度范圍寬而輸出范圍窄，可以起到突出某個灰度段圖象細節的作用。

3.灰度非線性變換：改變灰度曲線的形狀，可以起到增大亮度對比度、突出灰度圖象細節的作用。

4.直方圖均衡變換：本功能將可以起到增大圖象反差、突出灰度圖象細節的作用。

5.直方圖線性拉伸變換：本功能將可以起到增大圖象反差、突出灰度圖象細節的作用。

*顯示直方圖

將在對話框中顯示當前圖象的灰度直方圖，及在整個圖象中，具有不同灰度值的象素出現的概率分布。

*濾波

1.平滑濾波：平滑濾波可以消除或減弱圖象中的污點、水漬、劃痕、空洞等噪音，有效改善圖象質量。

2.銳化濾波：銳化濾波的目的在於增強圖象上如晶界、相界、夾雜等細節。不同的濾波運算元對不同的圖象有效。

*圖象分割

圖象分割的目的在於將特徵物與背景分離，將原始灰度圖象變換為便於處理的黑白兩色圖象。如將球墨鑄鐵的石墨與基體分離，石墨用黑色表示、基體用白色表示。圖象分割是圖象識別的關鍵步驟。

*圖象反視

圖象反視目的在於將灰度圖象黑白反置。

*圖象卷積

選擇不同的卷積核，利用卷積運算，可以對圖象進行平滑、銳化、邊緣增強等處理，有關理論請參閱圖象處理的專門書籍。

*二值圖象處理

各處理方法功能簡介

1.腐蝕:沿特徵物周圍剝掉一圈，利用此功能可以消除小的噪音顆粒和麻點。

2.膨脹:沿特徵物周圍擴展一圈，利用此功能可以填充小的空洞。

3.開:相當於先進行腐蝕運算，然後再進行相同次數的膨脹運算，利用此功 能可以實現相連顆粒的分離。

4.閉:相當於先進行膨脹運算，然後再進行相同次數的腐蝕運算，利用此功能可以實現分離特徵物的連接。如可實現斷開晶界的連接重建。

5.提取晶界:提取顆粒的邊界圖象。

6.提取骨架:提取顆粒的骨架，如可以將晶界提取為單線寬。

*圖象編輯：

1.設置窗口：默認狀態下，圖象處理和編輯的對象為整個圖象，要對整個區域的圖象進行處理，應該設置圖象窗口。

2.取消窗口：要設置新窗口，先要選擇「取消窗口」，再選擇「設置窗口」，將圖象處

理對象重新設置成整個圖象區域。

3.放 大：將當前選定的窗口放大。

4.縮 小：將當前選定的窗口縮小。

5.迭加圖形：可以任意畫圖。

6.迭加文字：可隨意輸入文字。

7.擦 除：移動橡皮擦除圖象。

8.定 位：當前游標處象素點的位置和灰度值顯示到狀態欄中。

*顆粒分析

1.顆粒參數描述：

Xs，Ys:顆粒外接矩形的左上角坐標

Xe，Ye:顆粒外接矩形的右上角坐標

Xc，Yc:顆粒質心

Xw :顆粒寬度

Yw :顆粒高度

面積 :顆粒象素數

周長 :顆粒周邊象素數

D0 :顆粒X方向Feret直徑

D90 :顆粒Y方向Feret直徑

D45 :顆粒45度方向Feret直徑

D135 :顆粒135度方向Feret直徑

歐拉數:顆粒歐拉數

孔數 :顆粒包含的孔數

圓度 :顆粒的形狀參數之一

凹度 :顆粒的形狀參數之一

圓面積徑:與顆粒面積相等的圓的直徑

2.粒篩選：根據不同的篩選原則，本功能可以刪除或保留選定的顆粒。顆粒篩選依據顆粒大小即象素數進行。

3.填充空洞：可選擇欲填充空洞的最大面積進行填充。用此功能可將尺寸小於規定值的空洞填充。

4.顆粒參數計算：可系統計算顆粒的參數，並將結果輸出到報告文件對話框中。

5.顆粒統計：可系統統計顆粒的參數，並將結果輸出到報告對話框中。

以上均可保存和列印。

*測量

1.設置標尺：在進行測量之前，要設置標尺，既確認當前的放大倍數，否則測量結果不準確。

2.長 度：可用滑鼠移動測量線左端點、右端點及中間點進行測量，直線的真實長度實時顯示在狀態欄中。

3.角 度：可用滑鼠移動角的頂點及兩條邊，角度實時顯示在狀態欄中。

4.矩形區域：可用滑鼠矩形左上角的點和右下角的點，放大縮小矩形，矩形面積實時顯示在狀態欄中。

5.圓形區域：可在外接矩形左上角（右下角）用滑鼠移動橢圓，橢圓面積實時顯示在狀態欄中。

*金相專用軟體

1.平均晶粒度評級

2.碳鋼石墨化評級

3.相含量測量

4.珠光體石墨化評級

5.球墨鑄鐵球化率評級

6.鑄鐵珠光體測量

7.鋼中非金屬夾雜物評級

8.鋼的滲碳層深度測量

9.高速工具鋼大塊碳化物評級

10.灰鑄鐵石墨長度測量評級

11.混有珠光體的鐵素體晶粒度評級

12.鋼中石墨碳評級

13.灰鑄鐵磷共晶測量評級

14.碳鋼石墨化檢驗及評級（電力部標准）

15.中碳鋼馬氏體針長測量

16.鋼的脫碳層厚度測量

17.碳釺維孔隙率測量

18.灰鑄鐵珠光體片間距測量

19.包鋁層測量

20.球墨鑄鐵石墨大小評級

21.灰鑄鐵碳化物數量測量

22.蠕墨鑄鐵蠕化率測量

23.蠕墨鑄鐵磷共晶數量評級

24.蠕墨鑄鐵碳化物數量評級

25.球墨鑄鐵碳化物測量

26.鑄鐵高錳鋼夾雜物評級

27.含銅貴金屬材料氧化亞銅金相檢驗（GB3490-
83）

28.鑄造鋁銅合金晶粒度（GB12852-89）

29.汽車滲碳齒輪馬氏體等級測量

30.鋯合金管材Fn檢測

*編程指南

VMS提供的子程序均放在庫文件VMS.LIB中，用C語言編制，可方便地調用，可方便用戶進行二次開發。

Ⅶ icp-aes分析儀的介紹

icp-aes分析儀(atomic emission spectrometer)。主要用於無機元素的定性及定量分析，ICP-AES 電感耦合等離子體發射光譜儀作為一種大型精密的無機分析儀器。廣泛地應用於稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產品、醫葯衛生、冶金、地質、石油、化工、商檢以及環保等部門

Ⅷ 光譜分析儀的使用方法

使用方法：開機步驟

1、開光譜儀電源

2、開計算機電源

3、在文件管理器中用滑鼠指按UV WinLab圖標，此時出現UV WinLab的應用窗口，儀器已准備好，可選用適當方法進行分析操作。

一、方法：在分析中必須對分光光度計設定一些必要的參數，這些參數的組合就形成一個「方法」。Lambda系列UV WinLab軟體預設四類常用方法。

1）掃描（SCAN），用以進行光譜掃描。

2）時間驅動（TIME DRIVER），用以觀察一定時間內某種特定波長處縱坐標值的變化，如酶動力學。

3）波長編程（WP）用以在多個波長下測定樣品在一定時間內的縱坐標值變化，並可以計算這些縱坐標值的差或比值。

4）濃度（CONC）用以建立標准曲線並測定濃度。

2.1 進入所需方法，在方法窗口中選擇所需方法的文件名。

二、方法的設定

掃描、波長編程及時間驅動各項方法可根據顯示的參數表，逐項按需要選用或填入，並可參考提示。

濃度

濃度方法窗口下方標簽較多，說明做濃度測定時需要參數較多。用滑鼠指按每一標簽，可翻出下頁，其上有一些需要測定的參數。必須逐頁設定。

三、工具條

1）SETUP

當所需的各項參數都已在參數中設好後，必須用滑鼠指按SETUP，才能將儀器調整到所設狀態。

2）AUTOZERO 用滑鼠指按此鍵，分光光度計即進行調零（在光譜掃描中則進行基線校正）。

3）START 用滑鼠指按此鍵，光度計即開始運行所設定的方法。

四、方法運行

1）掃描，時間驅動，波長編程方法選好後，先放入參比溶液，按AUTOZERO鍵，進行自自動校零或背景校正結束後再放入樣品，按START，分光光度計即開始進行，同時屏幕上出現圖形窗口，將結果顯示出來。

2）濃度

3）制訂標准曲線

（1）方法選好後，確認各項數據正確，特別是REFS頁中第一行要選中右上角的「edit mode」。再放入參比溶液，按AUTOZERO鍵自動校零或背景校正。

（2）按setup，待該圖標消失後，再按「start」，按提示依次放入標准色列的各管溶液，每次都按提示進行操作。

（3）標准色列測定完畢後，屏幕上出現calibgraphwindow，顯示擬合的標准線，並標出各項標准管的位置，屏幕下方還有一條ConcentraTIon mode的對話框，可以用來修改擬合的曲線類型（按 change calbraTIon），或修改標准溶液的任何一管（replace），或取消某一管（delete），或增加標准溶液管數（add）。如過已經滿意，則按analyse sample鍵，進入樣品測定窗口。

（4）標准曲線有關的各項數據，均在calibresultwindow中，可用滑鼠將其調出觀察。其中包括每個標准溶液的具體數據，標准曲線的回程方程式，相關系數，殘差。

五、樣品濃度測定

剛制定好的標准曲線接著進行樣品濃度測定時

1）只需在concentraTIon mode對話框按analyse sample鍵，進入樣品測定窗口。

2 ）按設定的樣品順序放入各樣品管，每次按提示進行操作。

3 ）屏幕上出現結果窗口，結果數據將依次顯示在樣品表中的相應位置。

（1）利用原有的標准曲線接著進行樣品濃度測定時

（2）調出所測定樣品的濃度方法文件，首先調出refs頁，將原設edit mode選項取消，改設左上角的using exiting calibration。重新將方法存檔，則今後再調用時即不需再作修改。

（3） 在sample頁中按要求重設各種樣品名稱機樣品信息。

（4）按工具條中setup鍵，將主機設到該方法所設定的條件。

（5）將參比溶液放入比色室，按autozero鍵做背景校零。

（6） 按start鍵，按設定的樣品順序放入各樣品管，每次按提示進行操作。

（7） 屏幕上出現結果窗口，結果數據將依次顯示在樣品表中相應位置。

六、關機

1）將方法及數據存檔

2）關閉方法窗

3）退出UV WinLab

4） 取出樣品及參比溶液

5）清潔光譜儀，特別是樣品室

6）關閉光譜電源

7）關閉計算機電源
根據現代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀。經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器：新型光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調制光譜儀是非空間分光的，它採用圓孔進光根據色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的採用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息採集，處理，存儲諸功能於一體。由於OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之後的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改變,大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆准確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜解析度高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由列印機，繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用於幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中,特別適應於對微弱信號，瞬變信號的檢測。
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特徵光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收，由發射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量，它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強度，I0為發射光強度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由於L是不變值所以A=KC。

物理原理

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。

能量最低的能級狀態稱為基態能級（E0=0），其餘能級稱為激發態能級，而能最低的激發態則稱為第一激發態。正常情況下，原子處於基態，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。

如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等於該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特徵波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，而產生原子吸收光譜。

電子躍遷到較高能級以後處於激發態，但激發態電子是不穩定的，大約經過10^-8秒以後，激發態電子將返回基態或其它較低能級，並將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。

Ⅸ 黃金檢測儀是一個什麼儀器

你好，很高興為你回答這個問題，通常我們所說的： 黃金檢測儀器，也叫黃金純度檢測儀，黃金鑒定儀等，這些都是俗名！專業名稱是X熒光光譜儀，亦稱XRF,設備其分析方法，是具有一定能量解析度的X射線探測器同時探測樣品所發出的各種能量特徵X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。X熒光光譜測金儀是在貴金屬行業的最頂端的技術。但有些這種儀器是要自己配電腦的，有些是自動帶電腦的。X熒光光譜測金儀測金機，對很多人來說，都是一個陌生的儀器，為了更直觀的了解「什麼是X熒光光譜測金儀？」，在此西凡小編先給大家幾張 X熒光光譜測金儀的圖片，先從外觀上認識一下測金機，直觀的感覺，有了，理論上我們再加以闡述，我想，大家的理解會更透徹一點，直接上圖：

這款是西凡EXF9600黃金檢測儀，是目前國內最先進的具有代表性的一款實用型黃金檢測儀器

西凡EXF9600黃金檢測儀，高強度鈑金支架+工程塑料外殼，提高了儀器的外部抗高壓既規受損的能力.

內部

1、正比計數盒探測器Si-pin 145Kev±5。

2、智能信號檢測電子電路。

3、高低壓電源。

4、X光管

5、集成工業電腦 (列印機)

二.性能特點

1、專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢，特別是黃金中參雜銥金可有效檢測銥金。

2、智能貴金屬檢測軟體，與儀器硬體相得益彰。

3、任意多個可選擇的分析和識別模型。

4、相互獨立的基體效應校正模型。

5、多變數非線性回收程序

三..應用領域

1、黃金、鉑金、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2、金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。

3、貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和檢測機構、電鍍行業。

4、各大專院校實驗室。

5、尤其是黃金及黃金飾品的含量檢測。

四.測金主要優勢

1 ) 3秒鍾內可對金銀飾品進行定性識別,30秒～60秒自動計算出首飾的精確含量

2 ) 對樣品無需任何物理和化學處理，即無損檢測金銀飾品

3 ) 分析范圍：能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%～99.99%

4 ) 安全性能指針符合國家標准要求(光線激發源為MO靶X光管)

5) 具有溫濕度自動補償功能

6) 符合最嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（採用滑蓋設計）

7 ) 探頭指針高，性能好，壽命長；

8) 全新32位軟硬體系統，工作可靠，效率高

9) 全球率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中於目標位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的照片對應於檢測結果，連同計算報告一起列印出來。

10）集成工業計算機在設備機箱內，無需外接計算機；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷

五.儀器使用注意事項

影響XRF黃金純度檢測儀的檢測結果的因素有很多。由於首飾產品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時檢測人員應了解和熟悉以下影響結果的因素（這些影響因素在不同情況下將對特徵譜線強度的採集產生很大的影響，甚至造成誤判）：

a)被測樣品與標准物質所含元素組成和含量有較大的差異；

b)被測樣品的表面有鍍層或經化學處理；

c)測量時間；

d)樣品的形狀；

e)樣品測量的面積；

f)貴金屬的含量多少；

XRF光譜測金儀出來的結果通常需要全面理解，由於被測的首飾產品不同，使用的儀器不同，檢測人員的素質水平不同，對檢測結果的接收范圍建議在以下范圍內選取。隨貴金屬含量的減少，可接收的范圍將增大。測量結果的誤差范圍為0.1%—3%，也可以根據委託方的協議確定，對結果如有爭議，應以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結果為准。

Ⅹ 輕便多道γ能譜儀

多道γ能譜儀,也可以利用上述四道γ能譜儀的方法,將許多相鄰的單道脈沖幅度分析器組合在一起,構成多道分析器。如果儀器道數很多,不僅構造復雜,而且很難保證性能穩定。為此多道脈沖幅度分析器採用了單道脈沖幅度分析器完全不同的原理和電路。

圖4-15 多道脈沖幅度分析器原理圖

如圖4-15所示,多道脈沖幅度分析器是多道γ能譜儀的核心部分。現代的多道脈沖幅度分析器主要由模數轉換器(ADC)、地址編碼器和存儲器構成。探測器將不同能量的γ射線轉換成與能量成正比的不同幅度的脈沖信號,輸入到ADC(Analog Digital Converter)；經內部變換,將輸出的脈沖按幅度大小轉換成數字表示；並對每個數字編碼變換成標記性的地址碼(稱標碼)接入一組編有地址的存儲器,被分析的不同幅度的脈沖按標碼選址進入相應的相鄰的存儲器中,實現按脈沖幅度分類記錄。每個地址存儲器為一道,設有一個計數器,每存一次使該道讀數加一。多道分析器有2ⁿ個地址存儲器,並將輸入脈沖幅度分成2ⁿ個數字編碼,即構成2ⁿ道脈沖幅度分析器。如取n=8即為256道；n=12,即為4096道。

一台完整的多道γ能譜儀,還需要有探測器、線性放大器,以及數據記錄處理器、控制和顯示系統等。

(一)攜帶型微機多道γ能譜儀

1.攜帶型多道γ能譜儀的一般特徵

目前這類儀器品種很多,基本結構大同小異。主要由探測器、線性放大器、ADC模數轉換器、變換控制器和單片微機(或筆記本)系統組成。如圖4-16所示。

圖4-16 輕便多道γ能譜儀結構原理圖

探測器可以是NaI(Tl)閃爍探測器,也可以是高能量解析度的半導體探測器。放大器一般使用低功耗CMOS高速線性運算放大器,ADC多數使用高分辨能力的線性放電工作的16位模數轉換器。通過介面/控制使微機系統能夠讀取ADC輸出的數據,並處理、顯示其結果。

一台性能優良的輕便多道γ能譜儀,還要增加一些輔助設備。首先在放大器之後要接入甄別器消除噪音信號(圖4-16)。其次是探測器採集脈沖信號是為了不漏計,還要對脈沖尖峰適當展寬,又增加了脈沖峰值保持電路。第三,ADC給出的道寬並不均勻,引起非線性誤差較大,因此增設了滑尺電路,保持道寬均勻。

類似以上原理近年製造的輕便多道γ能譜儀,列於表4-2。

表4-2 幾種輕便多道γ能譜儀(20世紀90年代以後產品)

2.ARD型攜帶型多道γ射線能譜儀特點和使用

現以ARD型攜帶型多道γ射線能譜儀為例介紹這類儀器的性能和用法。

本儀器是近年來剛剛推出的多道γ能譜儀。儀器由手持式操作台和圓柱形探測器兩部分組成(圖4-17)。儀器總質量4kg,用操作台採集數據時最高能達到1024道,用計算機採集數據時最高能達到4096道,可以提高微分測譜的精度,既適用於一般鈾礦普查的地質生產,也適用於與鈾有關的科研需要。

操作台外觀尺寸37mm×105mm×185mm,操作台有USB介面,可與計算機相連,能將自動記錄的數據導入計算機,在專用軟體的支持下能繪制每一測點的能譜曲線圖,並自動計算U、Th、K的含量；操作台還有內置GPS定位系統,可以方便定位,並將定位坐標自動存儲,便於室內成圖。操作台亦可懸掛於腰間,使操作者爬山更容易。操作台上有4英寸(in)320×240點的液晶顯示屏,通過液晶顯示屏很容易實現「人機交互」功能,操作十分方便。

圖4-17 ARD型多道γ能譜儀外觀

探測器φ107mm×400mm,質量3.5kg。NaI(Tl)晶體尺寸φ75mm×75mm,能量非線性誤差＜5%。探測器與操作台之間由專用電纜連接。操作台與電腦之間和探測器與電腦之間也有專用電纜,這三條電纜不能互換,但電纜介面都具有「防反插豁口」,一般不易插錯。儀器配有充電電池,在工作之前首先要給儀器充電。

儀器基本操作步驟：①連接儀器。在關機條件下連接操作台和探測器。②參數設置。打開操作台上的[開/關]鍵,此時儀器通電,但探測器需要15min左右的預熱(主要是高壓電源的升壓過程),此時儀器不能正常工作。可利用這段時間設置參數。參數設置通過操作台實現,主要是測點測線設置、測量參數設置(選擇測量道數)、穩譜狀態設置、標定系數設置、能量刻度設置、電源管理、保存參數等。③測量。又分測量狀態顯示、測量狀態鍵盤操作、保存測量數據、單點多次測量、連續測量等工作狀態和步驟。④數據操作。主要是將操作台數據導入電腦,實現數據查詢、剖面圖製作、數據輸出等功能。⑤儀器標定。這項工作在儀器出廠前已經做好,操作者只需使用即可。但儀器使用若干年以後或修理以後,標定工作不可少。詳細操作可參閱有關說明書。

3.FD-3022-Ⅰ型攜帶型多道γ射線能譜儀特點和使用

儀器的外觀如圖4-18所示。該儀器探頭和主機連在一起,形成一體機,質量為2.9kg；探測器為φ2in×2.4inBGO晶體；使用可充電的鋰離子電池；並有存儲器、USB和網路埠,便於數據自動記錄和導出；能量解析度≤12%；含量測試范圍U和Th為1～1000U_γ,K為0.2%～100%,總道一般以U_γ的形式表示總的輻射強度。儀器也採用菜單式操作,便於實現「人機交互」。

儀器開機後,伴隨一聲「滴」的鳴響,液晶屏顯示「SH申核」字樣,隨即進入搜尋界面,界面右上角出現「!」,表示儀器進入自動穩譜階段,當「!」消失,出現「《·》」時表示系統已經穩譜,右下角會出現「已穩譜」字樣,這一階段大約持續4s。之後儀器進入主菜單,主菜單有8項功能：①測量設置：設置測量時間、重復次數和測量模式選擇；②報警設置：這是置信系數和報警閾的設置功能；③查看數據：查看保存的歷史數據；④本底更新：保存最新的本底數據；⑤系統設置：設置系統參數；⑥原廠設置：使用者只可查看,不得更改(儀器標定參數)；⑦儀器檢定：這是標定儀器時才使用的功能；⑧退出：表示退出該界面。

圖4-18 FD-3022-Ⅰ型多道γ能譜儀外觀

在測量設置中,一般將測量時間設置為2min,重復測量設置為2(如遇高異常時設置為5),「啟動飛行測量」置於「否」,「飛行測量時間」設置1min。報警設置時,置信度系數不要太小(一般是44.7),否則容易出現誤報警；報警閾值也要適當(根據異常情況設置),一般設置300(相當於0.03%eU)。系統設置時,喇叭設置為「開」,背光設置為「手動」,其餘「系統時間」和「系統日期」等設置以當前時間為准。每一種設置都需要按「保存」,否則儀器自動恢復為原設置。所有設置都通過「手柄按鈕」實現,手柄按鈕上的「●」表示「確定」；「▲」表示「移動游標」選中某項操作。若選中的是某位數字,則每按一次,數據增加1,直到操作者要求的數據為止。

儀器在「搜尋」狀態時,畫面左下方有「測量」和「菜單」兩個選項；參數設置好以後,選擇「測量」,儀器進入自動測量狀態,畫面中出現坐標軸,縱坐標表示量程,單位是cps,橫坐標表示時間,測量時間一到,儀器自動出現「測量報告」,並進入自動重測階段,若自動重測次數到了以後,儀器顯示最後一次「測量報告」,操作者可抄錄數據(數據可自動保存)。

注意：該儀器只有在「穩譜」的條件下測量數據才是有效數據,在未穩譜時測量數據不能使用。

(二)輕便多道X射線熒光儀

原子核受到γ射線或X射線照射後會吸收其能量,使其處於激發態。這種狀態是一種不穩定狀態,可自發地躍遷而回到基態,並且把多餘的能量以X射線的形式釋放出來。能量的高低取決於原子核內的能級差,不同的原子核,其能級差不同。故每種元素受到照射時釋放不同能量的X射線,稱為特徵X射線。因此利用放射源對被測介質進行照射,根據介質釋放能量的高低就可判別該射線是由哪種原子核釋放的,即判別被測元素；又可根據釋放X射線的照射量率判別該元素的大致含量。這就是X射線熒光儀的基本原理。

原子核外電子躍遷產生的X射線,能量都小於140keV。其探測原理與γ射線基本相似。由於能量低,一般採用薄窗戶的薄片狀(1～5mm厚)NaI(Tl)或CsI(Tl)閃爍體、正比計數器以及鋰漂移型硅半導體探測器或高純鍺半導體探測器。近年來還研製成功,並推出電製冷高能量解析度的半導體探測器,即Si-PIN節半導體探測器和鎘鋅碲(CZT)半導體探測器。這兩種探測器適合於現場的攜帶型儀器使用,對小能量的解析度高。相對而言,Si-PIN型適合低能量X射線能譜測量,CZT型適合於高能量X射線測量。

X射線是放射源激發產生的。因此,X射線探測器附帶有激發源。攜帶型X射線熒光儀使用的激發源主要是專用的放射性同位素源,如²⁴¹Am(鎇)和²³⁸Pu(鈈)等。此兩種元素都是通過²³⁸U核反應堆製造的元素,自然界尚未發現這兩種元素。圖4-19是近年來使用較多的X射線熒光儀——礦石分析儀,這一款儀器使用電子激發,因而沒有放射性同位素源。

圖4-19 NitonXL2型手持式礦石分析儀外觀

目前市場上銷售的X射線熒光儀有「手槍式」和「抽屜式」兩種形態。抽屜式儀器大部分做室內分析用,手槍式可以在野外岩石上做現場分析。這類儀器能分析Fe、Ni、Cr、Ca、K、Na、Al、Cu、Pb、Zn、W、Sn、Mo、Pt族、LE(稀有金屬)等常見金屬元素和Si、O、S、As、Te、Se等非金屬元素。分析數據用百分含量表示,目前這類儀器對常量元素(克拉克值＞1%的元素)分析精度較高,基本能達到「定量分析」的程度(如Si、Al、Fe、Ca、Na、K等),對微量元素(特別是稀有元素和貴金屬)只能達到「半定量」分析的程度。

X射線熒光儀對Cu、Pb、Zn、Au、Ag等元素的分析數據還不能作為儲量計算的依據。而γ輻射儀、測井儀等儀器測量的數據經鈾鐳平衡系數、射氣系數的修正,就可以用來進行儲量計算。X射線熒光儀對一些介於常量元素和微量元素之間的幾個特定元素有較高的分析精度,如它對As元素的分析精度較高,而微細浸染型金礦與As之間的關系非常密切,可以通過分析As元素來達到間接找金的目的。甘肅禮縣中川地區的崖灣、馬泉、金山、李壩等金礦都與As關系密切,Au與As之間的相關系數能達到0.55～0.90(姜啟明等,2001、2005、2012年),幾乎可以說有As的地方就有Au,完全適合使用X射線熒光儀來找金。

X射線熒光儀的使用,是放射性物探儀器向非放射性礦產找礦領域擴展的重要里程碑。這種儀器可以在現場分析十多種元素的含量,可以大大提高工作效率。但這種儀器最大的缺陷是價格昂貴,目前市場價格約35萬元/台。這就大大限制了該儀器大規模的使用。如NitonXL2型手持式礦石分析儀可以分析土壤和岩石,但在野外直接碰到「礦體」的概率很低,所以這類儀器目前只在一些岩石的人工或天然露頭上測量。如在非放射性金屬勘查的探槽、坑道壁上測量,能有效地引導刻槽取樣的位置,節約大量的工作量。